繼(ji)電(dian)保護(hu)測試(shi)儀校驗周期(qi)及(ji)註意事(shi)項

繼(ji)電(dian)保護(hu)測試(shi)儀校驗周期(qi)及(ji)註意事(shi)項

繼(ji)電(dian)保護(hu)測試(shi)儀采(cai)用(yong)高(gao)性(xing)能(neng)工控機作(zuo)為(wei)控制(zhi)微機，直(zhi)接運行Window XP操作系(xi)統(tong)，裝(zhuang)置(zhi)面(mian)板帶有大尺寸(cun)真彩色(se)TFT顯(xian)示(shi)器、裝置(zhi)前面板設有多(duo)個USB口(kou)可(ke)方便(bian)地(di)進行數據存取(qu)、數(shu)據通信和進(jin)行軟件(jian)升(sheng)級等。

繼(ji)電(dian)保護(hu)測試(shi)儀的定(ding)檢(jian)周期(qi)是(shi)怎樣規(gui)定(ding)的呢(ne)?

新(xin)安(an)裝(zhuang)的保護(hu)裝置(zhi)1年(nian)內(nei)進(jin)行1次(ci)全部(bu)檢(jian)驗，以後每(mei)6年進行1次(ci)全部(bu)檢(jian)驗(220kv及以上(shang)電力系(xi)統(tong)微機線(xian)路(lu)保護(hu)裝置(zhi)全(quan)部(bu)檢(jian)驗時間(jian)壹(yi)般為(wei)2—4天(tian));

每1-2年進行1次(ci)部(bu)分檢(jian)驗(220kv及以上(shang)電力系(xi)統(tong)微機線(xian)路(lu)包住(zhu)裝(zhuang)置(zhi)部(bu)分檢(jian)驗時間(jian)壹(yi)般為(wei)1-2天(tian))。

那(na)麽(me)我(wo)們在(zai)進行微機繼(ji)電(dian)保護(hu)測試(shi)儀的檢(jian)驗中需要(yao)註意些(xie)什(shen)麽(me)問(wen)題呢(ne)?

我(wo)們在(zai)檢(jian)驗微機繼(ji)電(dian)保護(hu)測試(shi)儀是(shi)，要(yao)主(zhu)要(yao)防(fang)止損(sun)壞(huai)芯片(pian)的問(wen)題。

1、微機繼(ji)電(dian)保護(hu)屏(櫃)應該(gai)保(bao)證(zheng)良(liang)好(hao)可(ke)靠(kao)的接地，接地電(dian)阻(zu)應該(gai)符合(he)設計規(gui)定(ding)。用使(shi)用(yong)交流電源的電子(zi)儀器(如示波器、頻(pin)率(lv)計(ji))

測(ce)量(liang)電路(lu)參數(shu)時，電(dian)子(zi)儀器測量端子(zi)與電(dian)源(yuan)側應絕(jue)緣良(liang)好(hao)，儀器外殼(ke)應與(yu)保(bao)護(hu)屏(櫃)在同壹(yi)點接觸。

2、檢(jian)驗中不(bu)宜(yi)用(yong)電(dian)烙(lao)鐵(tie)，如必(bi)須用(yong)電(dian)烙(lao)鐵(tie)，應使(shi)用(yong)專(zhuan)用(yong)電烙(lao)鐵(tie)，並(bing)將(jiang)電(dian)烙(lao)鐵(tie)與保(bao)護(hu)屏(櫃)在同壹(yi)接觸點。

3、用(yong)手接觸芯片(pian)的管腳(jiao)時，應有(you)防(fang)止人(ren)身(shen)靜(jing)電損壞(huai)集成(cheng)電路(lu)芯片(pian)的措(cuo)施。

4、只有斷開(kai)直(zhi)流電源後才(cai)允許(xu)插、拔(ba)插(cha)件。

5、拔芯(xin)片應用(yong)專(zhuan)用(yong)起(qi)拔器，插入(ru)芯(xin)片應註意芯(xin)片插入(ru)方向，插(cha)入(ru)芯(xin)片應經(jing)第(di)二人(ren)檢(jian)驗確認(ren)無誤(wu)後，方可(ke)通電(dian)檢(jian)驗或(huo)使(shi)用(yong)。

6、測(ce)量(liang)絕(jue)緣電(dian)阻(zu)時，應拔(ba)出(chu)裝有(you)集成(cheng)電路(lu)芯片(pian)的插件(jian)(光耦及(ji)電(dian)源(yuan)插(cha)件除(chu)外)