微(wei)機(ji)繼(ji)電(dian)保(bao)護(hu)測(ce)試儀(yi)在(zai)試驗(yan)測(ce)試時應(ying)註意些什麽(me)？

微(wei)機(ji)繼(ji)電(dian)保(bao)護(hu)測(ce)試儀(yi)在(zai)試驗(yan)測(ce)試時應(ying)註意些什麽(me)？

微(wei)機(ji)繼(ji)電(dian)保(bao)護(hu)測(ce)試儀(yi)輸(shu)出(chu)部分采用(yong)DSP控制(zhi)，運算速度(du)快，實(shi)時數(shu)字信(xin)號(hao)處理能(neng)力(li)強，傳(chuan)輸(shu)頻(pin)帶寬，控制(zhi)高分辨率(lv)D/A轉換。輸(shu)出(chu)波形精(jing)度(du)高，失(shi)真(zhen)小線(xian)性好。采用(yong)了(le)新技(ji)術和(he)精(jing)密(mi)元器(qi)件材料(liao)，並進(jin)行(xing)了(le)專(zhuan)業(ye)化(hua)的結(jie)構(gou)設計(ji)，因(yin)而(er)裝置體(ti)積小、重量輕(qing)、功能(neng)全、攜(xie)帶方便，開(kai)機(ji)即(ji)可工(gong)作(zuo)，流動試驗(yan)非常(chang)方便。

在(zai)測(ce)試多段式(shi)過(guo)流保護時，壹(yi)般(ban)是壹(yi)段壹段地分別(bie)進(jin)行(xing)試驗(yan)，也就(jiu)是說(shuo)，做Ⅰ段定值的時候(hou)，把Ⅱ段、Ⅲ段都(dou)退出(chu)，然後(hou)逐(zhu)步升(sheng)電(dian)流直到保護(hu)動作(zuo)，在(zai)這(zhe)種方式(shi)下測(ce)出(chu)的動作(zuo)時間(jian)往往(wang)是不準確(que)的，測(ce)動作(zuo)時間(jian)時，直(zhi)接(jie)由測(ce)試儀(yi)輸(shu)出(chu)1.2倍(bei)及(ji)以(yi)上(shang)的整定動作(zuo)值（低電(dian)壓保護(hu)為0.8倍(bei)及(ji)以(yi)下）,保證保(bao)護能(neng)夠啟動動作(zuo)，這(zhe)樣(yang)測(ce)出(chu)來的動作(zuo)時間(jian)就比(bi)較(jiao)準(zhun)確(que)。

測(ce)試距離保護(hu)時，短(duan)路阻(zu)抗在(zai)小於整定(ding)定(ding)值的時候(hou)保護(hu)才(cai)會出(chu)口。所(suo)以(yi)壹(yi)般(ban)取(qu)定(ding)值的0.95倍(bei)來做試(shi)驗(yan)。可保(bao)證保(bao)護能(neng)夠可靠(kao)出(chu)口，在(zai)模擬(ni)接(jie)地距離故障(zhang)的時候(hou)，零序補(bu)償(chang)系(xi)數(shu)壹定要設置(zhi)正確；

校(xiao)驗(yan)零序電(dian)流定值時，要註意區分定(ding)值單(dan)裏(li)給(gei)出(chu)的是3I0的定值，還是I0的定值，如果(guo)是I0的定值，在(zai)測(ce)試模塊的左(zuo)下角會有顯(xian)示；如果(guo)是3 I0的定值，則(ze)將(jiang)左(zuo)下角顯(xian)示的I0的值乘(cheng)3，看是不是和(he)定(ding)值壹(yi)樣(yang)，對(dui)於距離和(he)零序保護定(ding)值的校驗(yan)，後(hou)面有專(zhuan)門的校驗(yan)模塊，測(ce)試會更方便，關(guan)於這部分軟(ruan)件已在後(hou)面介紹。

測(ce)試低周保護時，選(xuan)擇(ze)頻(pin)率(lv)可變(bian)，頻(pin)率(lv)變(bian)化(hua)的步長根(gen)據(ju)精(jing)度(du)的要求來(lai)設置(zhi)，選(xuan)擇(ze)“自(zi)動"的方式(shi)來完(wan)成，因(yin)為低周有df/dt的閉鎖值，用(yong)手(shou)動方式(shi)的話不好控制(zhi)，頻(pin)率(lv)從50開(kai)始下降壹直降(jiang)到(dao)保(bao)護(hu)動作(zuo)為止，需要註意的是，間(jian)隔時間(jian)應該(gai)大於保護(hu)的動作(zuo)時間(jian)。