電纜(lan)故(gu)障測(ce)試(shi)儀(yi)如何(he)操作故(gu)障分(fen)析

電纜(lan)故(gu)障測(ce)試(shi)儀(yi)如何(he)操作故(gu)障分(fen)析

壹、儀(yi) 器 概(gai) 述

電纜(lan)故(gu)障測(ce)試(shi)儀(yi)，可以測試35KV以下電壓等(deng)級的各(ge)種(zhong)類(lei)型電纜(lan)的(de)高阻閃(shan)絡性、泄漏性(xing)故障，低阻、短(duan)路(lu)性(xing)故(gu)障及(ji)斷路(lu)故(gu)障。

測試(shi)儀采(cai)用箱式(shi)結構(gou)，采(cai)用觸(chu)摸(mo)屏操作界面，所有功(gong)能(neng)按(an)鍵均在(zai)屏幕上(shang)直觀(guan)地(di)顯(xian)示(shi)，用戶(hu)可通過觸(chu)摸(mo)屏直接(jie)操作。具(ju)有波(bo)形(xing)儲(chu)存功(gong)能(neng)，可以儲(chu)存大(da)量的(de)現(xian)場測試(shi)波(bo)形(xing)，供隨(sui)時(shi)調(tiao)用觀(guan)察和同屏(ping)比較(jiao)。測試(shi)界面簡(jian)單清(qing)晰(xi)，功(gong)能按(an)鍵定義簡(jian)單明(ming)了(le)，測(ce)量方(fang)法(fa)簡(jian)單快(kuai)捷。

 二、主(zhu)要(yao)技術(shu)指標：

1.測試(shi)方法(fa)，低壓脈沖(chong)法(fa)、高壓(ya)閃(shan)絡(luo)法。

2.技術(shu)參數(shu)

測試(shi)距離(li)：低壓脈沖(chong)法(fa)時(shi)，大(da)測(ce)試(shi)距(ju)離(li)16Km；高壓(ya)閃(shan)絡(luo)法時(shi)，大(da)測(ce)試(shi)距(ju)離(li)不小於(yu)15Km。

系(xi)統測(ce)試(shi)精(jing)度：小於(yu)20cm。

脈沖(chong)幅(fu)度(du): 負載阻抗(kang)在(zai)50Ω時(shi)不小於(yu)250Vpp。

脈沖(chong)寬(kuan)度(du): 0.2μs、2μs、4μs三種(zhong)。

采(cai)樣頻(pin)率(lv): 48MHz、24MHz、12MHz、6MHz。

系(xi)統定點誤差：主機(ji)測量結(jie)果(guo)再(zai)配合數(shu)顯同步(bu)定點儀測(ce)量，誤(wu)差為零。

讀(du)數(shu)分(fen)辨(bian)率(lv): 1m

預置了4種(zhong)電纜(lan)介(jie)質的電波傳(chuan)播速(su)度(du)：油浸紙：160m/μs；交(jiao)聯聚乙(yi)烯(xi)：172m/μs；聚氯乙烯(xi)：184m/μs；以及其它(ta)非動(dong)力(li)電纜(lan)的(de)電波傳(chuan)播速(su)度(du)的設(she)置（自選介(jie)質）。

對於(yu)其它(ta)非動(dong)力(li)電纜(lan)，利用本(ben)機(ji)的(de)測(ce)速(su)功(gong)能可以在(zai)輸(shu)入(ru)該電纜(lan)的(de)已(yi)知(zhi)全(quan)長後，測出(chu)電波在(zai)該電纜(lan)中(zhong)的(de)傳(chuan)播(bo)速(su)度(du)。

3.采(cai)樣方式(shi)：電流取(qu)樣法。

4.工(gong)作條件(jian): 溫度(du)-10 ~+45ºC，相對濕(shi)度(du)90%。

5.體積(ji)：430×300×190mm。

6.重量：約(yue)10kg。

 三、測試原(yuan)理(li)

電纜(lan)故(gu)障壹(yi)般(ban)分(fen)為兩大類(lei)：低阻、開(kai)路(lu)故(gu)障和(he)高阻故(gu)障。儀(yi)器(qi)根(gen)據雷(lei)達測(ce)距(ju)原(yuan)理(li)，向(xiang)電纜(lan)發(fa)射(she)壹(yi)個(ge)低壓脈沖(chong)或(huo)高壓(ya)脈沖(chong)。當遇到特(te)性阻抗(kang)不匹配(pei)的(de)地(di)方(fang)時(shi)，就(jiu)會(hui)產(chan)生反(fan)射(she)波，儀(yi)器以*的速(su)度(du)將(jiang)發(fa)射(she)波(bo)形(xing)和反(fan)射波(bo)形(xing)采(cai)集下來(lai)並(bing)顯(xian)示(shi)在(zai)屏幕上(shang)，用雙(shuang)遊(you)標卡在(zai)波形(xing)的兩(liang)個(ge)特(te)征拐(guai)點上(shang)。儀器(qi)根(gen)據電波在(zai)電纜(lan)中(zhong)的(de)傳(chuan)播(bo)速(su)度(du)，便可測算出(chu)故(gu)障點到測(ce)試(shi)點的距(ju)離(li)。

S = VT / 2

S：故障點距測(ce)試(shi)端(duan)的(de)距離(li)。

V：電波在(zai)電纜(lan)中(zhong)的(de)傳(chuan)播(bo)速(su)度(du)。

T：電波在(zai)電纜(lan)中(zhong)故(gu)障點與測(ce)試端(duan)間(jian)壹(yi)個(ge)來(lai)回(hui)傳(chuan)播所需的時(shi)間(jian)。

這樣，在(zai)V和T已(yi)知(zhi)的(de)情況下，就(jiu)可計算出(chu)S，即(ji)故(gu)障點距測(ce)試(shi)點的距(ju)離(li)。這壹(yi)切只需要稍加(jia)人工(gong)幹(gan)預（用雙(shuang)遊(you)標卡在(zai)波形(xing)的特(te)征拐(guai)點上(shang)）就可由(you)計算機自(zi)動完(wan)成(cheng)，測(ce)試(shi)電纜(lan)故(gu)障迅(xun)速(su)準(zhun)確。

 四、開(kai)機前的(de)準(zhun)備工(gong)作和(he)壹(yi)般(ban)測試(shi)方法： 

1．在(zai)進行(xing)現場故障測(ce)試(shi)之(zhi)前(qian)應檢查儀器(qi)電量是(shi)否充足(zu)（右(you)上(shang)方有本(ben)機(ji)電池(chi)電量百(bai)分(fen)比顯示(shi)，數(shu)字(zi)變(bian)成紅色(se)時(shi)表(biao)示(shi)電量不足(zu)）。若(ruo)儀器(qi)電量不足(zu)時(shi)，應接(jie)外接(jie)電源，儀器方可正(zheng)常(chang)使用。 

2．開(kai)啟(qi)儀器(qi)“電源開(kai)關(guan)"，待(dai)儀器(qi)進入(ru)Windows桌面(mian)系(xi)統後，稍候(hou)數(shu)秒(miao)鐘(zhong)儀器(qi)自動(dong)進入(ru)電纜(lan)測(ce)試(shi)系(xi)統設(she)置界面。按(an)下“測(ce)試(shi)電源"鍵，此時(shi)儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)的“閃絡、脈沖(chong)"指示(shi)燈(deng)交替(ti)閃(shan)爍，後並(bing)默(mo)認“低壓脈沖(chong)測(ce)試(shi)"狀態(tai)。（註：如果(guo)計算機退出(chu)電纜(lan)測(ce)試(shi)儀(yi)系(xi)統後，回到(dao)了(le)計算機的(de)桌面(mian)系(xi)統，需要重新進入(ru)電纜(lan)儀(yi)測(ce)試(shi)系(xi)統，可用手(shou)指或(huo)觸(chu)摸(mo)筆雙擊(ji)桌面(mian)系(xi)統上(shang)的電纜(lan)儀(yi)圖標，即(ji)可重新進入(ru)電纜(lan)儀(yi)測(ce)試(shi)系(xi)統的(de)初(chu)始(shi)設(she)置界面。點擊(ji)相關(guan)觸(chu)摸(mo)鍵，又可對電纜(lan)測(ce)試(shi)系(xi)統設(she)置界面上(shang)的相(xiang)關(guan)功(gong)能進(jin)行設(she)置）。 

3．根(gen)據被測(ce)電纜(lan)的(de)種(zhong)類(lei)、長度(du)及(ji)故(gu)障性(xing)質，用手(shou)指或(huo)觸(chu)摸(mo)筆單擊(ji)電纜(lan)儀(yi)相(xiang)關(guan)觸(chu)摸(mo)鍵，進行初(chu)始(shi)設(she)置。此時(shi)狀(zhuang)態(tai)欄(lan)將(jiang)顯(xian)示(shi)設(she)置後的當前狀態(tai)。

4．以上(shang)設(she)置完後（默認的(de)“低壓脈沖(chong)測(ce)試(shi)法"），將(jiang)測(ce)試(shi)電纜(lan)夾(jia)接(jie)在(zai)被測(ce)電纜(lan)的(de)芯(xin)線(xian)和外皮(pi)上(shang)，點擊(ji)“采(cai)樣"鍵，儀器(qi)便進(jin)入(ru)數(shu)據采(cai)集狀態(tai)。並(bing)將(jiang)測(ce)得的波(bo)形(xing)顯示(shi)在(zai)屏幕上(shang)。再(zai)次點擊(ji)“采(cai)樣"鍵，儀器(qi)即(ji)進(jin)入(ru)自動采(cai)樣狀態(tai)。操作者(zhe)可根(gen)據波形(xing)的幅(fu)度、位(wei)置進行“位(wei)置調節(jie)"和(he)“振幅調節(jie)"。直至(zhi)波形(xing)便於(yu)觀測(ce)時(shi)再(zai)點擊(ji)“取消(xiao)采(cai)樣"為止(zhi)。

5．如果(guo)設(she)置的是“高壓(ya)閃(shan)絡(luo)法"，點擊(ji)“采(cai)樣"鍵後，儀器(qi)進(jin)入(ru)“采(cai)樣中(zhong)"的(de)等(deng)待(dai)狀態(tai)，高壓(ya)沖(chong)閃(shan)時(shi)，儀(yi)器(qi)會(hui)自(zi)動將(jiang)采(cai)樣盒采(cai)集到的(de)信(xin)號顯示(shi)在(zai)屏幕上(shang)。並(bing)且(qie)有自(zi)動(dong)進入(ru)“采(cai)樣中(zhong)"等(deng)待(dai)狀態(tai)，準備采(cai)集下壹(yi)次(ci)高壓(ya)沖(chong)閃(shan)時(shi)的(de)信(xin)號。如果(guo)認為波形(xing)便於(yu)觀測(ce)，點擊(ji)“取消(xiao)采(cai)樣"，即(ji)可進行(xing)遊(you)標操作，測(ce)出(chu)故(gu)障距(ju)離(li)。