變壓器有載(zai)分(fen)接(jie)開關(guan)特性(xing)測(ce)試儀(yi)操(cao)作(zuo)時需註意事(shi)項

變壓器有載(zai)分(fen)接(jie)開關(guan)特性(xing)測(ce)試儀(yi)操(cao)作(zuo)時需註意事(shi)項

1、在實(shi)際(ji)測(ce)量時所測(ce)波(bo)形(xing)往(wang)往比理(li)論(lun)波(bo)形(xing)差(cha)，尤其(qi)在有(you)繞(rao)組(zu)測量(liang)時，這是因(yin)為(wei)在測(ce)量(liang)時變壓器繞組(zu)的(de)電(dian)感(gan)、電容參(can)數(shu)造(zao)成(cheng)的(de)振(zhen)蕩信(xin)號，以(yi)及分(fen)接(jie)開關(guan)的(de)機(ji)械(xie)振(zhen)動(dong)，使(shi)所測(ce)波(bo)形(xing)呈(cheng)現(xian)出(chu)壹些波(bo)動(dong)，這種情況在實(shi)際(ji)測(ce)試時是無(wu)法避免的(de)。有(you)些新開關由於(yu)開(kai)關接觸點(dian)上(shang)保護(hu)油膜(mo)在低(di)電(dian)壓(ya)下(xia)呈(cheng)顯(xian)現(xian)絕(jue)緣性(xing)；以(yi)及使(shi)用年(nian)限(xian)較長(chang)，開(kai)關接觸點(dian)有(you)氧化現(xian)象的(de)開(kai)關(guan)，在測(ce)試時波(bo)形(xing)可能，這也屬正(zheng)常(chang)現(xian)象。可以(yi)在該檔上(shang)多切換(huan)幾(ji)次開(kai)關，使(shi)氧化層變薄(bo)，增(zeng)加(jia)接觸面積(ji)，再(zai)用儀(yi)器進行(xing)測試，可能會(hui)避免這種現(xian)象。

2、還有壹(yi)種現(xian)象就是超量程(cheng)測試，如測(ce)試開關(guan)的(de)過(guo)渡(du)電阻大(da)於(yu)9Ω，而(er)選(xuan)量程(cheng)為(wei)9Ω時進行(xing)測量，結(jie)果會(hui)出(chu)現(xian)如圖(tu)二(er)十壹所(suo)示(shi)的(de)波(bo)形(xing)。 這時光(guang)標(biao)1所指(zhi)示(shi)處(chu)的(de)過(guo)渡(du)電阻有(you)可能正(zheng)常(chang)，光(guang)標(biao)2所指(zhi)示(shi)處(chu)的(de)過(guo)渡(du)電阻顯(xian)示(shi)為(wei)50.0Ω，這是由於(yu)超量程(cheng)所致(zhi)，只(zhi)需把(ba)量(liang)程(cheng)改為(wei)30Ω再進(jin)行(xing)測試即(ji)可。也可能過(guo)渡過(guo)程(cheng)中間(jian)過程(cheng)為(wei)平(ping)直(zhi)線均(jun)為(wei)50.0Ω，也是超量程(cheng)所至，則也只(zhi)需改(gai)變量程(cheng)為(wei)30Ω即(ji)可。

操(cao)作(zuo)時需註意事(shi)項：

1. 儀(yi)器可帶(dai)線圈進(jin)行(xing)測量，但(dan)嚴(yan)禁(jin)帶(dai)電(dian)測(ce)量(liang)，並斷開測(ce)試端(duan)的(de)連(lian)線；

2. 帶(dai)繞(rao)組(zu)測試時，變壓器的(de)非測試端(duan)應(ying)三(san)相短(duan)路(lu)接地，儀(yi)器的(de)O端(duan)不(bu)要(yao)接地；

3. 對(dui)於(yu)長(chang)時間未(wei)動(dong)的(de)有(you)載(zai)開關，測(ce)試前應(ying)多次轉(zhuan)換(huan)開關(guan)，磨除觸頭(tou)表(biao)面氧化層及觸頭(tou)間(jian)雜質；

4. 使(shi)用前，儀(yi)器的(de)接(jie)地端(duan)子必(bi)須(xu)接好(hao)地線；

5. 不能將兩組(zu)以(yi)上(shang)的(de)線連(lian)在壹(yi)起(qi)作(zuo)為(wei)壹路(lu)測(ce)量(liang)，不用的(de)線要開路(lu)；

6. 測試過程(cheng)中，不(bu)允許(xu)拆除測(ce)試線；

7．測試結束後(hou)，先(xian)關(guan)閉儀(yi)器再拆(chai)除所(suo)有(you)接線。

性能特點(dian)：

1、可實現(xian)過渡(du)波(bo)形(xing)和(he)過渡時間、過(guo)渡(du)電阻、三(san)相同期(qi)性(xing)等參(can)數(shu)的(de)測(ce)量(liang)。

2、屏幕點陣(zhen)液晶顯示(shi)器，分(fen)級(ji)式中(zhong)文菜(cai)單，操(cao)作(zuo)簡便(bian)快(kuai)捷。

3、智(zhi)能(neng)型(xing)測試和結(jie)果分(fen)析(xi)，放(fang)大(da)或縮(suo)小(xiao)波(bo)形(xing)測(ce)試結果(guo)。

4、三(san)路獨(du)立(li)的(de)穩壓源適(shi)合(he)無(wu)繞組(zu)測量(liang)，三(san)路獨(du)立(li)的(de)恒(heng)流(liu)源適(shi)合(he)有(you)繞(rao)組(zu)和無(wu)繞組(zu)的(de)測(ce)量(liang)。

5、六路獨(du)立(li)的(de)信(xin)號處(chu)理(li)，高(gao)速(su)A/D轉(zhuan)換(huan)，10KHz高(gao)速(su)采(cai)樣(yang)，反映參(can)數(shu)的(de)變化。

6、內(nei)設(she)不斷電存(cun)貯器可保存(cun)三(san)組(zu)波(bo)形(xing)和(he)數(shu)據(ju)，可存(cun)檔、調(tiao)閱(yue)、分(fen)析(xi)。

7、自帶(dai)萬(wan)年(nian)歷(li)，顯(xian)示日期和(he)時間，並可自動(dong)打(da)印(yin)。

8、儀(yi)器配有(you)高(gao)速(su)打(da)印機(ji)，可打印(yin)測試結果(guo)。