回路電阻測(ce)試(shi)儀(yi)測(ce)試(shi)現(xian)場(chang)的(de)問(wen)題(ti)

回路電阻測(ce)試(shi)儀(yi)測(ce)試(shi)現(xian)場(chang)的(de)問(wen)題(ti)

     根據傳統設計(ji)原(yuan)理(li)設計(ji)的(de)回路電阻測(ce)試(shi)儀(yi)（也稱(cheng)為(wei)接觸電阻測(ce)試(shi)儀(yi)）在現場(chang)測(ce)試(shi)時(shi)，發(fa)現存(cun)在壹(yi)個(ge)通病。當測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)電壓連(lian)接(jie)電路(lu)接觸不良或(huo)斷路(lu)時，測(ce)試(shi)儀(yi)也會(hui)顯(xian)示(shi)壹(yi)個(ge)數值，會(hui)出(chu)現(xian)以下情(qing)況(kuang)：

　　(1)電壓回路開路，試(shi)驗現場(chang)無(wu)強電(dian)場(chang)幹(gan)擾(rao)。在這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)下，由(you)於(yu)放大(da)器(qi)輸入(ru)的(de)差模(mo)電壓基(ji)本為(wei)0，所以儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)的(de)測(ce)試(shi)值(zhi)接近於0。如(ru)果(guo)測(ce)試(shi)人員(yuan)有(you)足(zu)夠的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)經(jing)驗，可以判斷儀(yi)器(qi)電(dian)壓測(ce)試(shi)線(xian)異(yi)常電路異(yi)常並返回儀(yi)表(biao)電壓。排(pai)除異(yi)常測(ce)試(shi)路(lu)徑後(hou)，即可得(de)到(dao)最終正確(que)的(de)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。

　　(2)電壓電(dian)路(lu)接觸(chu)不良。大(da)多(duo)數情(qing)況(kuang)下，斷路(lu)器(qi)的(de)接線(xian)端子(zi)在(zai)長期運行後(hou)會(hui)在(zai)接(jie)線(xian)端子(zi)外(wai)表(biao)面(mian)產(chan)生(sheng)氧化膜或油(you)膜。當電(dian)路(lu)電阻(zu)器(qi)的(de)電壓測(ce)試(shi)鉗(qian)夾(jia)在這種(zhong)端子(zi)板(ban)上時，可能會(hui)接(jie)觸(chu)不(bu)良。當電壓測(ce)試(shi)夾(jia)本身(shen)也產(chan)生(sheng)壹(yi)定的(de)接觸(chu)電阻(zu)時，接觸(chu)電(dian)阻值(zhi)與電壓采樣電路(lu)的(de)內阻(zu)值相(xiang)同。會(hui)對(dui)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)產生(sheng)嚴重(zhong)影響。

　　(3)電壓回路開路或(huo)接(jie)觸(chu)不良(liang)（開路時可(ke)見接觸(chu)電阻(zu)r1無(wu)窮大(da)），測(ce)試(shi)現(xian)場(chang)有強電(dian)磁幹(gan)擾(rao)，如(ru)帶電(dian)母線(xian). 此時(shi)，帶電(dian)母線(xian)以空(kong)氣為(wei)介質(zhi)通過(guo)電(dian)容器(qi)，幹(gan)擾(rao)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)兩條電壓測(ce)試(shi)線(xian)。由(you)於(yu)幹(gan)擾(rao)，回路電阻測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)電壓采集線(xian)為(wei)兩條。差模(mo)電(dian)壓出(chu)現(xian)在最後(hou)。