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          (1)回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)(又(you)叫開(kai)關(guan)回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi))電(dian)壓(ya)回路開(kai)路,測試(shi)現場無(wu)強電(dian)場(chang)幹擾。在這(zhe)種(zhong)情況(kuang)下(xia),由於(yu)放大(da)器(qi)輸入(ru)的差模電(dian)壓(ya)基本為(wei)0,所(suo)以儀(yi)器(qi)顯(xian)示的測試(shi)值(zhi)接近0。如果(guo)測試(shi)儀(yi)有足(zu)夠的現場測(ce)試(shi)經(jing)驗(yan),可(ke)以(yi)判(pan)斷是(shi)儀(yi)表(biao)電(dian)壓(ya)回路的異常(chang)測(ce)試(shi)線(xian)。如果(guo)測試(shi)人(ren)員沒有足(zu)夠的現場測(ce)試(shi)經(jing)驗(yan),可(ke)能會誤判(pan)測(ce)試(shi)人(ren)員的問題(ti),中斷測試(shi),更(geng)換或修(xiu)理儀(yi)器(qi),延(yan)誤停電(dian)時(shi)間(jian),給(gei)測試(shi)工作帶來(lai)不(bu)必要的麻煩(fan)。 

          (2)回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)的電(dian)壓(ya)電(dian)路接觸(chu)性(xing)差。在大(da)多(duo)數(shu)情況(kuang)下(xia),斷路器(qi)的終端(duan)在(zai)長(chang)期(qi)運行(xing)後會在(zai)終端(duan)的外表(biao)面(mian)產生(sheng)氧(yang)化(hua)膜或油(you)膜(mo)。當(dang)回(hui)路電(dian)阻(zu)的電(dian)壓(ya)測試(shi)鉗(qian)連(lian)接(jie)到這(zhe)樣(yang)的端(duan)子(zi)條(tiao)時(shi),它(ta)可(ke)能產生(sheng)不(bu)良的接觸(chu),甚(shen)至電(dian)壓(ya)測試(shi)線(xian)夾(jia)本身也(ye)應(ying)該(gai)產生(sheng)壹定的接觸(chu)電(dian)阻(zu)。當(dang)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)等於(yu)電(dian)壓(ya)采樣電(dian)路的內阻(zu)時,試(shi)驗(yan)結(jie)果將受到嚴重(zhong)影響。 

          (3)回(hui)路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)電(dian)壓(ya)回路開(kai)路或接(jie)觸(chu)不(bu)良(開(kai)路時可(ke)視(shi)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)R1無窮(qiong)大(da)),測試(shi)現場有較(jiao)強的電(dian)磁(ci)幹擾(rao),如母線(xian)帶(dai)電(dian)。此(ci)時帶電(dian)母線(xian)通(tong)過以(yi)空氣(qi)為(wei)介質(zhi)的電(dian)容(rong),幹(gan)擾(rao)測(ce)試(shi)儀(yi)的兩(liang)條(tiao)電(dian)壓(ya)測試(shi)線(xian)。由於(yu)幹擾的作用(yong)使(shi)回路測試(shi)儀(yi)電(dian)壓(ya)采集線(xian)兩(liang)端(duan)出(chu)現差模電(dian)壓(ya)。 

          如果(guo)幹擾較(jiao)大(da),回路電(dian)阻(zu)測試(shi)儀(yi)將顯示(shi)比被(bei)測產品(pin)電(dian)阻(zu)值(zhi)大(da)得多(duo)的值(zhi)。這時(shi),如果(guo)測試(shi)人(ren)員有足(zu)夠的現場測(ce)試(shi)經(jing)驗(yan),他(ta)就可(ke)以(yi)判(pan)斷出測試(shi)結果的異常(chang),從(cong)而引起大(da)家的註意(yi),最終得到了(le)正確的測試(shi)結果,但(dan)如果(guo)測試(shi)人(ren)員沒有足(zu)夠的經(jing)驗(yan)可(ke)能會誤判(pan)開(kai)關(guan)回(hui)路電(dian)阻(zu)值(zhi)超(chao)標,可(ke)能會采用(yong)停電(dian)檢修(xiu)的方法處(chu)理缺(que)陷,給(gei)電(dian)力(li)生產造成不(bu)必要的損失(shi)。 

          如果(guo)幹擾強度不(bu)是(shi)很(hen)大(da),儀(yi)器(qi)表(biao)明該值(zhi)正好在(zai)斷路器(qi)合格(ge)電(dian)阻(zu)的範圍(wei)內(nei),這(zhe)與(yu)“(2)電(dian)壓(ya)回路接觸(chu)差"的結果(guo)相(xiang)同,也(ye)會導(dao)致(zhi)誤判(pan)。

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