匝間沖擊(ji)耐壓測(ce)試儀試驗(yan)原(yuan)理及(ji)試驗(yan)規程

匝間沖擊(ji)耐壓測(ce)試儀試驗(yan)原(yuan)理及(ji)試驗(yan)規程

基本(ben)原(yuan)理

匝間沖擊(ji)耐壓測(ce)試儀，又稱匝間耐(nai)壓測(ce)試儀或沖擊(ji)耐壓測(ce)試器，主要(yao)用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)電機、變壓器(qi)、電感(gan)線圈(quan)等繞(rao)組(zu)的(de)匝間絕緣(yuan)質(zhi)量(liang)。

其(qi)核(he)心(xin)原(yuan)理是(shi)“對比(bi)法"：

產(chan)生(sheng)高(gao)壓脈(mai)沖：儀器(qi)內部儲(chu)能電容(rong)通(tong)過(guo)開(kai)關(guan)向(xiang)被測(ce)繞組(zu)施(shi)加壹個(ge)瞬間的(de)高壓脈(mai)沖（通(tong)常為數(shu)千伏(fu)，但持(chi)續(xu)時(shi)間極短(duan)，能(neng)量(liang)可控(kong)）。

采(cai)集(ji)響(xiang)應波形(xing)：這(zhe)個脈沖在(zai)繞(rao)組(zu)中(zhong)會(hui)產(chan)生(sheng)壹個(ge)衰減(jian)振蕩的(de)電壓波形(xing)（稱為“衰減(jian)振蕩波"或(huo)“李(li)薩如圖(tu)形"）。

波形(xing)對比(bi)分(fen)析：

合(he)格品(pin)對比(bi)：將壹個(ge)已知良好(hao)的(de)標準(zhun)繞組(zu)（或(huo)稱“基準(zhun)繞(rao)組(zu)"）的(de)響(xiang)應波形(xing)存(cun)儲(chu)在(zai)儀(yi)器(qi)中(zhong)或顯示在(zai)屏(ping)幕(mu)上。

被(bei)測(ce)品(pin)對比(bi)：將待(dai)測(ce)繞組(zu)的(de)響(xiang)應波形(xing)與(yu)標(biao)準(zhun)波形(xing)進(jin)行疊加(jia)對比(bi)。

判斷(duan)依(yi)據(ju)：如果(guo)繞組(zu)存(cun)在(zai)匝間短(duan)路(lu)、局部放電、匝數(shu)錯誤(wu)、嵌(qian)線錯誤(wu)等缺(que)陷(xian)，其電感(gan)量(liang)（L）、電阻(zu)（R）和(he)分(fen)布(bu)電容(rong)（C）會(hui)發(fa)生(sheng)變化(hua)，導(dao)致(zhi)振蕩波的(de)頻率(lv)、幅(fu)度、衰減(jian)速度或形態發(fa)生(sheng)改(gai)變。通(tong)過(guo)觀(guan)察(cha)兩(liang)個波形(xing)的(de)差異(yi)，即可判斷(duan)繞(rao)組(zu)是(shi)否合(he)格(ge)。

試驗(yan)規程

試驗(yan)規程規定(ding)了(le)測(ce)試前(qian)的(de)準備(bei)、環境要(yao)求(qiu)、測(ce)試參數(shu)設定(ding)等標(biao)準(zhun)化(hua)流(liu)程。

測(ce)試前(qian)準備(bei)：

儀(yi)器檢(jian)查(zha)：確(que)認(ren)測(ce)試儀主機、接(jie)地(di)線(xian)、高壓測(ce)試線、配套夾(jia)具(ju)（如需(xu)要(yao)）完好(hao)無(wu)損。

環(huan)境確認(ren)：測(ce)試環境應幹燥(zao)、清潔(jie)，無(wu)強電磁(ci)幹(gan)擾。儀(yi)器(qi)和(he)被測(ce)品(pin)應可靠(kao)接(jie)地(di)。

被(bei)測(ce)品(pin)（DUT）準備(bei)：

確(que)保被(bei)測(ce)電機/變壓器(qi)繞組(zu)已清潔(jie)、幹(gan)燥(zao)。

斷(duan)開(kai)被測(ce)繞組(zu)與(yu)所(suo)有外部電路(lu)（如電源(yuan)線、驅(qu)動器、其他(ta)繞組(zu)）的(de)連接(jie)，確(que)保處(chu)於(yu)隔(ge)離狀(zhuang)態(tai)。

對於(yu)三相(xiang)電機，應將被(bei)測(ce)相(xiang)的(de)其他(ta)兩相(xiang)短(duan)路(lu)並(bing)接(jie)地(di)（具(ju)體(ti)請參照儀器(qi)說(shuo)明書，這是為了(le)提供壹致(zhi)的(de)對比(bi)回路(lu)）

參數(shu)設定(ding)（關(guan)鍵步(bu)驟）：

測(ce)試電壓：根(gen)據(ju)被測(ce)繞組(zu)的(de)絕緣(yuan)等級(ji)、工(gong)作電壓以及(ji)相(xiang)關(guan)標準(zhun)（如GB/T 22719, IEC 60034等）或(huo)制(zhi)造(zao)廠規範來設(she)定(ding)沖擊(ji)電壓值。

常(chang)見經(jing)驗(yan)公(gong)式：測(ce)試電壓 (峰(feng)值) = (2 * 額(e)定(ding)工(gong)作電壓 + 1000) * K

其(qi)中(zhong) K 是壹個(ge)系(xi)數(shu)，通(tong)常取 1.0 - 1.5，對於(yu)新(xin)產(chan)品(pin)或嚴(yan)格測(ce)試可取更(geng)高(gao)值。務必(bi)以具(ju)體(ti)產(chan)品(pin)標準(zhun)為準(zhun)。

采(cai)樣(yang)時(shi)間/頻(pin)寬：根(gen)據(ju)繞組(zu)電感(gan)量(liang)大(da)小(xiao)調(tiao)整。電感(gan)量(liang)大(da)（如大(da)電機）的(de)繞組(zu)振蕩頻率(lv)低(di)，應選擇較長的(de)采(cai)樣(yang)時(shi)間；電感(gan)量(liang)小（如小(xiao)變壓器(qi)）的(de)繞組(zu)振蕩頻率(lv)高(gao)，應選擇較短(duan)的(de)采(cai)樣(yang)時(shi)間。

判斷(duan)門檻（%）：設置波形(xing)差(cha)異(yi)的(de)允(yun)許範(fan)圍(wei)，例(li)如設(she)置為5%。當(dang)波形(xing)面(mian)積差(cha)或(huo)幅度差超過(guo)此值時(shi)，儀(yi)器會(hui)自動判不(bu)合(he)格並(bing)報警(jing)。初(chu)始(shi)設置可稍(shao)寬松，根(gen)據(ju)產(chan)品(pin)壹致(zhi)性調(tiao)整。

基準(zhun)波形(xing)獲取：

選擇壹個(ge)經(jing)其他(ta)手段(duan)（如綜(zong)合測(ce)試臺(tai)）驗(yan)證(zheng)為合(he)格(ge)的(de)樣(yang)品(pin)作為“標(biao)準(zhun)電機"。

在(zai)其(qi)上(shang)施(shi)加設(she)定(ding)的(de)測(ce)試電壓，采(cai)集(ji)其響(xiang)應波形(xing)。將(jiang)該(gai)波形(xing)保存(cun)為基準(zhun)波形(xing)。