MY-624 變頻(pin)抗幹擾介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)操(cao)作簡(jian)便(bian)，測(ce)量過程由微(wei)處理器控(kong)制，只要選(xuan)擇(ze)好(hao)合(he)適的(de)測(ce)量方式(shi)，數據的(de)測(ce)量就(jiu)可(ke)在微(wei)處理器控(kong)制下(xia)自動完(wan)成。壹(yi)體化機(ji)型，內附(fu)標準電容(rong)和高(gao)壓電(dian)源(yuan)，便(bian)於(yu)現(xian)場(chang)測(ce)試，減少現場(chang)接(jie)線。

MY-624 變(bian)頻抗幹(gan)擾介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)性能(neng)特點：
1、儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)復(fu)數(shu)電流法，測(ce)量電容、介(jie)質損(sun)耗(hao)及(ji)其(qi)它(ta)參(can)數(shu)。測(ce)試結果(guo)精度(du)高(gao)，便(bian)於(yu)實(shi)現自動化(hua)測(ce)量。
2、儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)了變頻(pin)技(ji)術來(lai)消(xiao)除現(xian)場(chang)50Hz工(gong)頻(pin)幹(gan)擾，即(ji)使在強電磁幹擾的(de)環境(jing)下也能(neng)測(ce)得可(ke)靠(kao)的(de)數據。
3、儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)大屏幕(mu)液晶顯(xian)示(shi)器(qi)，測(ce)試過程通(tong)過漢字菜(cai)單提(ti)示既直觀又便(bian)於(yu)操(cao)作。
4、儀(yi)器(qi)操(cao)作簡(jian)便(bian)，測(ce)量過程由微(wei)處理器控(kong)制，只要選(xuan)擇(ze)好(hao)合(he)適的(de)測(ce)量方式(shi)，數據的(de)測(ce)量就(jiu)可(ke)在微(wei)處理器控(kong)制下(xia)自動完(wan)成。
5、壹(yi)體化機(ji)型，內附(fu)標準電容(rong)和高(gao)壓電(dian)源(yuan)，便(bian)於(yu)現(xian)場(chang)測(ce)試，減少現場(chang)接(jie)線。
6、儀(yi)器(qi)測(ce)量準確度(du)高(gao)，可(ke)滿(man)足(zu)油介(jie)損(sun)測(ce)量要求，因(yin)此只需配(pei)備(bei)標準油杯，和(he)測(ce)試線即可(ke)實(shi)現油介(jie)損(sun)測(ce)量。
7、設CVT測(ce)試功能，可(ke)實(shi)現CVT的(de)自激法測(ce)試，無需外置附(fu)件，壹次(ci)測(ce)量C1,C2的(de)電容(rong)和介(jie)損(sun)全部(bu)測(ce)出。
8、反接(jie)線測(ce)試采用ivddv技(ji)術,消(xiao)除了(le)以往(wang)反接(jie)線數據不穩(wen)定(ding)的(de)現象(xiang)。
9、具(ju)有(you)反接(jie)線低(di)壓屏蔽(bi)功能(neng)，在220kVCVT 母線接(jie)地情(qing)況(kuang)下(xia)，對(dui)C11 可(ke)進(jin)行不拆(chai)線10kV 反接(jie)線介(jie)損(sun)測(ce)量
10、具(ju)有(you)測(ce)量高(gao)電壓(ya)介(jie)損(sun)功(gong)能(neng)，能(neng)夠使用高(gao)壓變(bian)壓(ya)器(qi)或(huo)串(chuan)聯(lian)諧(xie)振進(jin)行超(chao)過10kV電壓(ya)的(de)介(jie)損(sun)試(shi)驗(yan)。
11、接(jie)地保護(hu)功(gong)能，當(dang)儀(yi)器(qi)不接(jie)地線或(huo)接(jie)地不良(liang)時，儀(yi)器(qi)不進(jin)入正(zheng)常(chang)程序，不輸出高(gao)壓。
12、觸(chu)電(dian)保護(hu)功(gong)能，當(dang)儀(yi)器(qi)操(cao)作人(ren)員不小心(xin)觸電(dian)時候(hou)，儀(yi)器(qi)會(hui)立即(ji)切(qie)斷(duan)高(gao)壓，保障(zhang)試(shi)驗(yan)人(ren)員的(de)安(an)全。

MY-624 變頻抗幹(gan)擾介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)技(ji)術指標(biao)：
準確度(du)：Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）
tgδ: ±（讀(du)數×1%+0.00040）
抗(kang)幹擾指標(biao)： 變(bian)頻抗(kang)幹擾，在200%幹擾下(xia)仍(reng)能達(da)到上(shang)述準確度(du)
電容(rong)量(liang)範(fan)圍： 內施(shi)高(gao)壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
外施(shi)高(gao)壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
分(fen)辨(bian)率(lv)： zui高(gao)0.001pF，4位有(you)效數(shu)字
tgδ範(fan)圍： 不限，分辨(bian)率(lv)0.001%，電容、電(dian)感、電(dian)阻三種(zhong)試(shi)品(pin)自動識別(bie)。
試(shi)驗電(dian)流範圍：10μA～5A
內施(shi)高(gao)壓： 設定(ding)電壓(ya)範圍：0.5～10kV
zui大輸出電(dian)流(liu)：200mA
升降壓方式(shi)： 連續(xu)平滑調節
試驗(yan)頻率(lv)： 45、50、55、60、65Hz單(dan)頻
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙(shuang)變(bian)頻(pin)
頻(pin)率(lv)精(jing)度(du)： ±0.01Hz
外施(shi)高(gao)壓： 正(zheng)接(jie)線時zui大試驗(yan)電(dian)流1A，工頻(pin)或(huo)變(bian)頻40-70Hz
反接(jie)線時zui大試驗(yan)電(dian)流10kV/1A，工頻(pin)或(huo)變(bian)頻40-70Hz
CVT自激法低(di)壓輸出：輸出電(dian)壓(ya)3～50V，輸出電(dian)流(liu)3～30A
測(ce)量時間： 約(yue)40s，與(yu)測(ce)量方式(shi)有(you)關
輸入電源(yuan)： 180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市(shi)電(dian)或(huo)發電(dian)機供電(dian)
計算機接(jie)口： 標準RS232接(jie)口
打(da)印(yin)機(ji)： 煒(wei)煌A7熱(re)敏(min)微(wei)型打(da)印(yin)機(ji)
環境(jing)溫度(du)： -10℃～50℃
相(xiang)對(dui)濕度： <90%
外形尺(chi)寸(cun)： 460×360×350mm
儀(yi)器(qi)重量：25kg