MYBZT系列(lie)變(bian)壓(ya)器(qi)綜合(he)特(te)性(xing)測試臺(tai)產(chan)品(pin)介(jie)紹：

本(ben)公司(si)生(sheng)產(chan)的(de)變(bian)壓(ya)器(qi)綜合(he)測(ce)試(shi)臺主(zhu)要(yao)是對(dui)電力(li)變(bian)壓(ya)器(qi)，配電變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)空載、負(fu)載特(te)性(xing)進(jin)行(xing)試驗，也可(ke)對(dui)被(bei)試(shi)變(bian)壓(ya)器(qi)進(jin)行倍頻感(gan)應(ying)及(ji)工(gong)頻耐(nai)壓(ya)試(shi)驗。該(gai)裝置測量部(bu)分由高檔(dang)單片機控(kong)制(zhi)，數(shu)字顯(xian)示(shi)，空載，短(duan)路(lu)等(deng)測(ce)試數據由單片機同步(bu)采樣(yang)，避(bi)免(mian)了傳(chuan)統(tong)試驗方法(fa)中電壓(ya)，電流表(biao)，功率表(biao)分別讀數並由人工(gong)計(ji)算造(zao)成(cheng)的(de)誤差。

 MYBZT系列(lie)變(bian)壓(ya)器(qi)綜合(he)特(te)性(xing)測試臺(tai)測試(shi)項目(mu) ：

變(bian)壓(ya)器(qi)變(bian)比(bi)測試(shi)/直(zhi)流電阻(zu)測(ce)試/空載損(sun)耗測(ce)試(shi)/負載(zai)損耗測(ce)試(shi)/交流耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)/感應(ying)高壓(ya)測(ce)試(shi)/倍頻試(shi)驗

本(ben)綜合(he)臺(tai)能(neng)完(wan)成(cheng)5000kVA以下的空載試(shi)驗，6300kVA以下的空負載(zai)試驗、變(bian)比(bi)組別試驗、直(zhi)流電阻(zu)試(shi)驗、絕(jue)緣(yuan)電阻(zu)試(shi)驗、阻(zu)抗(kang)實驗、三倍頻感(gan)應(ying)耐(nai)壓(ya)試(shi)驗及(ji)交流耐(nai)壓(ya)試(shi)驗於壹(yi)體(ti)。

測量參數字顯(xian)示(shi)，測量參數菜(cai)單顯示，參數設(she)置等。

綜合(he)臺(tai)上(shang)特(te)別設(she)計(ji)有日期(qi)、星(xing)期(qi)、時間、溫度、濕(shi)度(du)等(deng)功能(neng)，以備試驗工(gong)作人員(yuan)在(zai)測(ce)試中填(tian)表(biao)（建檔(dang)）。

所(suo)有測(ce)試數(shu)據即能(neng)顯(xian)示(shi)又(you)可將(jiang)測(ce)試(shi)結果打印(yin)輸(shu)出(chu)，消除(chu)人(ren)為(wei)的(de)讀數(shu)誤差和節省大量的計(ji)算時間。

采用顯示、操(cao)作分類設(she)計(ji)，觀查(zha)視角好，操(cao)作方便(bian)。 

產(chan)品(pin)參數：