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互(hu)感器(qi)綜合特性測(ce)試儀(yi)
HZTC-413智(zhi)能互(hu)感器(qi)分析(xi)儀

產品簡介
HZTC-413智(zhi)能(neng)互(hu)感器(qi)分析(xi)儀是按照 IEC60044-1/GB1208,IEC60044-2GB1207,IEC60044-6/GB16847和(he)C57.13設計(ji)的(de)多功(gong)能電(dian)流、電(dian)壓(ya)互(hu)感器(qi)特性測(ce)試儀(yi),儀(yi)器可以獲(huo)得(de)電(dian)流電(dian)壓(ya)互(hu)感器(qi)的(de)勵(li)磁(ci)特性,勵(li)磁(ci)參(can)數(shu),砸(za)比(bi),砸(za)比(bi)誤(wu)差(cha),極性(xing),線(xian)圈(quan)電(dian)阻和(he)磁滯回(hui)線(xian)等(deng)多種(zhong)試驗參(can)數(shu),被測電(dian)流互(hu)感器(qi)的(de)zui高拐點電(dian)壓(ya)可以達(da)到(dao)45KV。是供(gong)電(dian)系統(tong)及(ji)生產互(hu)感器(qi)廠家出廠效驗的(de)理想設備(bei)。
HZTC-413智能(neng)互(hu)感器(qi)分析(xi)儀產品特點:
CT/PT分析(xi)儀用(yong)於(yu)電(dian)流互(hu)感器(qi)的(de)以下(xia)試驗:
1)勵(li)磁(ci)特性試驗
2)匝(za)數(shu)比(bi)檢測
3)比(bi)差(cha)與角差(cha)校(xiao)驗
4)極(ji)性(xing)校(xiao)驗
5)二(er)次(ci)繞組(zu)電(dian)阻測量(liang)
6)二(er)次(ci)負(fu)荷(he)測(ce)量
7)5%和(he)10%誤(wu)差(cha)曲線(xian)測(ce)量(liang)
8)CT暫(zan)態特性測(ce)試與(yu)分析(xi)
9)CT銘(ming)牌自(zi)動推斷
10)拐點電(dian)壓(ya)/電(dian)流、準確(que)限值系數(shu)、儀表(biao)保(bao)安系(xi)數(shu)、二(er)次(ci)時(shi)間常數、剩磁系(xi)數(shu)、準確(que)級、飽(bao)和(he)與不(bu)飽(bao)及(ji)電(dian)感等CT參(can)數(shu)的(de)測量
11)電(dian)流互(hu)感器(qi)鐵(tie)芯磁滯回(hui)線(xian)測(ce)量(liang)
CT/PT分析(xi)儀還可用(yong)於(yu)電(dian)壓(ya)互(hu)感器(qi)的(de)以下(xia)試驗:
1)PT電(dian)壓(ya)比(bi)測(ce)量(liang)
2)PT比(bi)差(cha)與角差(cha)校(xiao)驗
3)PT極(ji)性(xing)校(xiao)驗
4)PT二(er)次(ci)繞組(zu)電(dian)阻測量(liang)
5)PT二(er)次(ci)負(fu)荷(he)測(ce)量
裝置的(de)應(ying)用(yong)場合主要(yao)有:
1)CT誤(wu)差(cha)校(xiao)驗
2)CT銘(ming)牌的(de)參數校(xiao)驗
3)CT接(jie)入(ru)當(dang)前(qian)負(fu)荷(he)時(shi)參數(shu)校(xiao)驗
4)分析(xi)CT的(de)暫(zan)態特性對(dui)繼電(dian)保(bao)護裝置的(de)影響。
5)PT誤(wu)差(cha)校(xiao)驗
6)PT的(de)銘(ming)牌參(can)數校(xiao)驗
7)PT二(er)次(ci)負(fu)荷(he)校(xiao)驗
產品參數
電(dian)磁式PT比(bi)差(cha)測量(liang) | 典型(xing)誤(wu)差(cha)<0.05%,保(bao)證誤(wu)差(cha)<0.1%電(dian)磁式PT角差(cha)測量(liang)誤(wu)差(cha)<3分 | ||
數(shu)據(ju)存儲組(zu)數(shu) | 大(da)於(yu)1000 | 報告格式 | WORD |
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