NDFA-II CT伏安特性(xing)測(ce)試(shi)儀(yi)用(yong)於測量(liang)保(bao)護(hu)CT伏安特性(xing)、5%、10%誤差(cha)曲線(xian)，變(bian)比、極(ji)性(xing)，還(hai)可(ke)以(yi)輸(shu)出大電(dian)流(liu)測量(liang)CT的(de)二(er)次(ci)回路。裝(zhuang)置(zhi)主機(ji)包括自動升壓(ya)器(qi)、內置(zhi)升流(liu)器、微(wei)機(ji)控制系(xi)統(tong)、以及人機(ji)接口(kou)（顯(xian)示、操(cao)作、打印）。裝置(zhi)主機(ji)可直(zhi)接(jie)做(zuo)CT伏安特性(xing)、變(bian)比、極(ji)性(xing)等試驗。

NDFA-II CT伏安特性(xing)測(ce)試(shi)儀(yi)用(yong)於測量(liang)保(bao)護(hu)CT伏安特性(xing)、5%、10%誤差(cha)曲線(xian)，變(bian)比、極(ji)性(xing)，還(hai)可(ke)以(yi)輸(shu)出大電(dian)流(liu)測量(liang)CT的(de)二(er)次(ci)回路。裝(zhuang)置(zhi)主機(ji)包括自動升壓(ya)器(qi)、內置(zhi)升流(liu)器、微(wei)機(ji)控制系(xi)統(tong)、以及人機(ji)接口(kou)（顯(xian)示、操(cao)作、打印）。裝置(zhi)主機(ji)可直(zhi)接(jie)做(zuo)CT伏安特性(xing)、變(bian)比、極(ji)性(xing)等試驗。

NDFA-II CT伏安特性(xing)測(ce)試(shi)儀(yi)產(chan)品(pin)特性(xing)：
CT伏安特性(xing)測(ce)試(shi)儀(yi)是(shi)壹款全(quan)自(zi)動(dong)化(hua)的PT、CT特性(xing)測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)，儀器可以(yi)完成的試驗包括： CT伏安特性(xing)試(shi)驗、PT伏安特性(xing)試(shi)驗，CT極(ji)性(xing)試(shi)驗、PT極(ji)性(xing)試(shi)驗，CT變(bian)比極(ji)性(xing)試(shi)驗和(he)PT變比極(ji)性(xing)試(shi)驗，自(zi)動計算CT的任意點誤差(cha)曲線(xian)，CT/PT變(bian)比比差(cha)等結(jie)果(guo)參(can)數(shu)。

技術參(can)數：
※輸(shu)入(ru)電(dian)壓(ya)：AC 220V或(huo)AC 380V
※輸(shu)出(chu)電(dian)流(liu)：AC 0V--550V或0V--950V，外接(jie)升壓(ya)器(qi)0V--2000V
※變(bian)比試驗：單(dan)機(ji)電流(liu)0A--600A，外接升流(liu)器0A--1000AV
※測量(liang)精(jing)度(du)：電壓(ya)、電(dian)流(liu)0.2%，變比0.5%
※電源(yuan)電壓(ya)：AC 220V±10%