HDGK-8A 高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)綜(zong)合(he)測試(shi)儀(yi)是(shi)根據(ju) DL/T 846.1~DL/T 846.9 — 2004《高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)綜(zong)合(he)測試(shi)儀(yi)》，DL/T596-1996《電(dian)力預(yu)防性試(shi)驗(yan)規程(cheng)》，GB/T1984-2003《高(gao)壓(ya)交(jiao)流(liu)斷(duan)路器(qi)》而(er)研(yan)發(fa)的(de)新壹代測(ce)試(shi)儀(yi)。廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)於供電(dian)系統(tong)、開(kai)關(guan)生(sheng)產廠家(jia)、工(gong)礦、冶(ye)金(jin)、鐵路等(deng)用(yong)電(dian)部門進(jin)行(xing)出廠、交(jiao)接、預(yu)防及(ji)檢修(xiu)試(shi)驗(yan)。

HDGK-8A 高壓(ya)開(kai)關(guan)綜(zong)合(he)測試(shi)儀(yi)

1. 可(ke)測試(shi)各(ge)種(zhong)國產（進(jin)口）真(zhen)空(kong)、六(liu)氟化(hua)硫、油(you)高(gao)壓(ya)斷(duan)路器(qi)，負(fu)荷開(kai)關(guan)、GIS接(jie)地(di)刀閘開(kai)關(guan)、接(jie)觸器(qi)、繼(ji)電(dian)器(qi)、空(kong)氣(qi)開(kai)關等(deng)開(kai)關(guan)的(de)機(ji)械特性參(can)數(時(shi)間、同期、彈跳、行(xing)程(cheng)、速(su)度、操作電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)、反彈、主端(duan)口(kou)與輔助(zhu)開(kai)關(guan)的(de)配(pei)合時間、機(ji)械操作等(deng)各項(xiang)數據(ju)及(ji)波(bo)形(xing))。
2. 精確(que)的(de)分(fen)析(xi)計(ji)算功(gong)能(neng)，可(ke)靈(ling)活(huo)定義開(kai)關(guan)的(de)速(su)度，大容量(liang)數據(ju)存儲直(zhi)接(jie)存在硬盤，並(bing)可(ke)進行(xing)數據(ju)導(dao)入導(dao)出(chu)，方便(bian)查看(kan)，打(da)印(yin)。
3. 儀(yi)器(qi)自帶(dai)內(nei)部可(ke)調(tiao)直(zhi)流(liu)電(dian)源，可(ke)進行(xing)合閘、分閘、重合(he)閘(zha)測試(shi)，也可(ke)進行(xing)低(di)電(dian)壓(ya)動(dong)作試(shi)驗(yan)。
4. 面板(ban)式(shi)寬(kuan)幅(fu)高(gao)速熱敏(min)打(da)印(yin)機(ji)能(neng)隨時打(da)印(yin)全部數據(ju)及(ji)動(dong)作特性曲(qu)線。
5.  

1）本(ben)產品配備為7寸(cun)真(zhen)彩觸摸屏；
2）自帶(dai)2個(ge)USB接口。
3）本(ben)產品測試(shi)數據(ju)可(ke)以導(dao)出(chu)到電(dian)腦(nao)上(shang)進(jin)行(xing)分(fen)析(xi)及打(da)印(yin)，但不能(neng)直(zhi)接(jie)連(lian)接電(dian)腦(nao)進(jin)行現(xian)場(chang)測(ce)試(shi)，也就(jiu)是(shi)只(zhi)能(neng)本(ben)機(ji)操作。

1. Window操作系(xi)統(tong)，觸摸屏操作，大(da)屏幕彩色液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏。
2. 配有(you)上(shang)位(wei)機(ji)軟(ruan)件(jian)能(neng)進(jin)壹(yi)步(bu)對數據(ju)分(fen)析(xi)、存儲和(he)各種(zhong)報表(biao)的打(da)印(yin)。
3. 儀(yi)器(qi)自帶(dai)內(nei)部可(ke)調(tiao)直(zhi)流(liu)電(dian)源，可(ke)進行(xing)合閘、分閘、重合(he)閘(zha)測試(shi)，也可(ke)進行(xing)低(di)電(dian)壓(ya)動(dong)作試(shi)驗(yan)。

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高壓(ya)開(kai)關(guan)機(ji)械特性測(ce)試(shi)儀(yi)依(yi)據(ju)高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)動(dong)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)新技術標(biao)準開(kai)發(fa)研(yan)制的(de)儀(yi)器(qi)。它(ta)以(yi)單(dan)片(pian)機(ji)為(wei)核(he)心(xin)，*性的(de)采(cai)用(yong)CPLD存貯轉鼓式(shi)采(cai)樣技(ji)術(shu)，其(qi)主要特點(dian)是采(cai)用(yong)旋轉(zhuan)式(shi)傳(chuan)感器(qi),傳(chuan)感器(qi)安(an)裝(zhuang)方(fang)便(bian)，測(ce)試(shi)精(jing)度高，壹機(ji)多用(yong)。采(cai)用(yong)漢(han)字(zi)顯(xian)示結果並(bing)可(ke)打(da)印(yin)輸出測試(shi)曲(qu)線、測試(shi)參(can)數，具(ju)有(you)智(zhi)能(neng)化(hua)、功(gong)能(neng)多、數據(ju)精(jing)確(que)、抗(kang)幹(gan)擾(rao)性強(qiang)、操作簡(jian)單(dan)、體(ti)積小、重量(liang)輕(qing)、外(wai)觀美等(deng)優(you)點(dian)，適(shi)用(yong)於各(ge)種(zhong)戶內、戶外(wai)少油、多油開(kai)關(guan)、真(zhen)空(kong)開(kai)關(guan).

產品別稱(cheng)

· 高壓(ya)斷(duan)路器(qi)機(ji)械特性測(ce)試(shi)儀(yi)

· 斷(duan)路器(qi)開(kai)關(guan)動(dong)特性綜(zong)合測(ce)試(shi)儀(yi)

· 斷(duan)路器(qi)特性測(ce)試(shi)儀(yi)

· 斷(duan)路器(qi)/高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)動(dong)特性測(ce)試(shi)儀(yi)

· 高壓(ya)開(kai)關(guan)測(ce)試(shi)儀(yi)

· 高壓(ya)開(kai)關(guan)機(ji)械特性測(ce)試(shi)儀(yi)

產品功能(neng)

1、適(shi)用(yong)於國內(nei)外(wai)生產的(de)所有(you)型(xing)號的(de)SF6開(kai)關(guan)、GIS組合電(dian)器(qi)、真(zhen)空(kong)開(kai)關(guan)、油(you)開(kai)關(guan)的(de)機(ji)械特性試(shi)驗(yan)。u

1. 2、*的抗(kang)幹(gan)擾(rao)能(neng)力，在(zai)500KV變電(dian)站旁路母(mu)線帶(dai)電(dian)的情(qing)況下(xia)，也能(neng)輕(qing)松試(shi)驗(yan)，精確(que)測(ce)量(liang)。
2. 3、直(zhi)線直(zhi)線傳(chuan)感器(qi)，旋(xuan)轉(zhuan)傳(chuan)感器(qi)，安(an)裝(zhuang)極(ji)為(wei)方便(bian)、簡(jian)捷(jie)。
3. 4、開(kai)關(guan)動(dong)作壹(yi)次(ci)，得到開(kai)關(guan)機(ji)械特性試(shi)驗(yan)所有(you)數據(ju)及(ji)相(xiang)應的波(bo)形(xing)圖譜。
4. 5、主機(ji)可(ke)存儲現(xian)場(chang)試(shi)驗(yan)數據(ju)，機(ji)內(nei)實時時鐘(zhong)，便(bian)於(yu)存檔(dang)保存試(shi)驗(yan)日期、時間。
5. 6、主機(ji)大(da)屏幕、寬(kuan)溫(wen)度、直(zhi)透視、背景光液(ye)晶(jing)、全(quan)中(zhong)文(wen)顯示所有(you)數據(ju)及(ji)圖譜，液(ye)晶(jing)對比(bi)度電(dian)子調(tiao)節(jie)、斷(duan)電(dian)記憶(yi)。
6. 7、中文(wen)菜(cai)單(dan)操作,使(shi)用(yong)方便(bian)。儀(yi)器(qi)內(nei)置(zhi)打(da)印(yin)機(ji)，隨時快(kuai)速打(da)印(yin)所有(you)數據(ju)及(ji)圖譜。u
7. 8、儀(yi)器(qi)配(pei)有(you)RS-232接(jie)口，可(ke)與PC機(ji)聯(lian)機(ji)操作，也可(ke)輸出(chu)到各類(lei)針式(shi)、激(ji)光(guang)或(huo)噴(pen)墨打(da)印(yin)機(ji)打(da)印(yin)試(shi)驗(yan)報告(gao)，使現(xian)場(chang)試(shi)驗(yan)計(ji)算機(ji)化(hua)。
8. 9、時間：12個斷(duan)口的(de)固有(you)分(fen)、合閘(zha)時間，同相同期、相間同期。
9. 10、重合(he)閘：每(mei)斷(duan)口的(de)合－分(fen)，分－合，分－合(he)－分(fen)過程(cheng)時(shi)間：壹分時間、壹合時間、二(er)合時間、金(jin)短時(shi)間、無(wu)電(dian)流(liu)時間值(zhi)。
10. 11、彈跳：每(mei)斷(duan)口的(de)合閘(zha)彈跳時(shi)間，彈跳次(ci)數，彈跳過程(cheng)，彈跳波(bo)形(xing);每(mei)斷(duan)口的(de)分閘(zha)反彈幅值(zhi)。
11. 12、速度：剛(gang)分(fen)、剛(gang)合(he)速度，zui大速度，時間－行程(cheng)特性曲(qu)線。
12. 13、行程(cheng)：總行(xing)程(cheng)，開(kai)距(ju)，超(chao)行(xing)程(cheng)，過沖行程(cheng)，反彈幅值(zhi)。
13. 14、電(dian)流(liu)：分、合(he)閘(zha)線圈的(de)分、合閘(zha)電(dian)流(liu)值(zhi)、電(dian)流(liu)波(bo)形(xing)圖。
14. 15、動(dong)作電(dian)壓(ya)：機(ji)內(nei)提(ti)供DC30～250V/20A數字(zi)可(ke)調(tiao)斷(duan)路器(qi)動(dong)作電(dian)源，自(zi)動(dong)完(wan)成斷(duan)路器(qi)的(de)低(di)電(dian)壓(ya)動(dong)作試(shi)驗(yan)，測量(liang)斷(duan)路器(qi)的(de)動(dong)作電(dian)壓(ya)值(zhi)。

開(kai)關(guan)機(ji)械特性測(ce)試(shi)儀(yi)操作方(fang)便(bian)，具(ju)有(you)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，完(wan)成普(pu)通(tong)的單(dan)合、單分測試(shi)僅(jin)需按(an)壹(yi)下測試(shi)按(an)鈕(niu)，即可(ke)以完(wan)成測(ce)試(shi)和(he)結果顯示過程(cheng)。

◆ 精確(que)的(de)采(cai)樣技(ji)術(shu)，采(cai)樣頻(pin)率(lv)40KHz，幅值(zhi)精(jing)度16位。

◆ 本(ben)儀(yi)器(qi)具(ju)備彩色LCD顯(xian)示功(gong)能(neng)，能(neng)在(zai)測(ce)量(liang)現場(chang)顯(xian)示(shi)控(kong)制過程(cheng)和(he)測(ce)量(liang)結果，並(bing)打(da)印(yin)結果。

◆ 儀(yi)器(qi)操作方(fang)便(bian)，具(ju)有(you)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，完(wan)成普(pu)通(tong)的單(dan)合、單分測試(shi)僅(jin)需按(an)壹(yi)下測試(shi)按(an)鈕(niu)，即可(ke)以完(wan)成測(ce)試(shi)和(he)結果顯示過程(cheng)。

◆ 儀(yi)器(qi)自(zi)動(dong)識(shi)別合、分閘，防(fang)止用(yong)戶錯(cuo)誤(wu)操作。

◆ 能(neng)夠實現開(kai)關(guan)單(dan)分(fen)、單合、合分(fen)、分(fen)－θ－合分、分－θ－合(he)分(fen)－t－合分(fen)、合(he)分(fen)－t－合(he)分六(liu)種(zhong)測試(shi)。

◆ 測量(liang)時可(ke)以選擇不安裝傳(chuan)感器(qi)，而(er)使(shi)用(yong)輔助(zhu)觸點(dian)進行(xing)粗測(ce)。

◆ 可(ke)以選擇將傳(chuan)感器(qi)安(an)裝(zhuang)在(zai)斷(duan)口1或(huo)斷(duan)口2中(zhong)A、B、C三相(xiang)中的任意壹(yi)相(xiang)，靈(ling)活(huo)設(she)置(zhi)。

◆ 既可(ke)以用(yong)位移(yi)傳(chuan)感器(qi)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)，也選擇角位移傳(chuan)感器(qi)測(ce)量(liang)。

◆ 測試(shi)的(de)控(kong)制方(fang)式(shi)包含(han)內控(kong)、外(wai)控(kong)、手(shou)力合(he)分三種(zhong)方式(shi)。

◆ 能(neng)準確(que)測(ce)試(shi)出(chu)分(fen)、合(he)閘線圈的(de)電(dian)流(liu)峰值(zhi)以(yi)及變化曲(qu)線。

◆ 可(ke)以根據(ju)“占(zhan)總行(xing)程(cheng)百分比(bi)”、“占(zhan)開(kai)距(ju)的(de)百分比(bi)”、“時(shi)間”、“行程(cheng)”四(si)種(zhong)定義方(fang)式(shi)分別(bie)定義觸頭運(yun)動(dong)速(su)度，滿足(zu)各種(zhong)速度測試(shi)     要(yao)求。

◆ 能(neng)直(zhi)接(jie)精(jing)確(que)測(ce)量(liang)觸頭開(kai)距(ju)。

◆ 能(neng)測(ce)量(liang)並(bing)顯示(shi)端(duan)口波(bo)形(xing)、反彈幅值(zhi)、彈跳、超(chao)程(cheng)、過沖等(deng)。

◆ 可(ke)測試(shi)不(bu)同(tong)期、分、合閘速(su)度、時間等(deng)斷(duan)路器(qi)機(ji)械特性參(can)數，兼(jian)顧(gu)舊(jiu)標(biao)準要(yao)求測試(shi)的(de)項(xiang)目(mu)，同時涵蓋了新標準要(yao)求測試(shi)項(xiang)目(mu)。