HGKC-V開(kai)關(guan)機(ji)械(xie)特性分(fen)析儀是根(gen)據(ju) DL/T 846.1~DL/T 846.9 — 2004《高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)綜合測試(shi)儀》，DL/T596-1996《電力(li)預(yu)防(fang)性試(shi)驗(yan)規(gui)程》，GB/T1984-2003《高(gao)壓(ya)交(jiao)流(liu)斷路器(qi)》而(er)研(yan)發(fa)的(de)新壹(yi)代測試(shi)儀。廣泛(fan)應(ying)用於供電系統(tong)、開(kai)關(guan)生(sheng)產廠(chang)家(jia)、工(gong)礦、冶金、鐵(tie)路等用電(dian)部門(men)進行(xing)出(chu)廠(chang)、交(jiao)接(jie)、預防及檢修試(shi)驗(yan)。

HGKC-V開(kai)關(guan)機(ji)械(xie)特性分(fen)析儀

1. 可(ke)測試(shi)各(ge)種國(guo)產（進口(kou)）真(zhen)空(kong)、六氟(fu)化硫、油高壓(ya)斷路器(qi)，負(fu)荷開(kai)關(guan)、GIS接(jie)地(di)刀閘開(kai)關(guan)、接(jie)觸器(qi)、繼電器(qi)、空(kong)氣開(kai)關(guan)等(deng)開(kai)關(guan)的(de)機(ji)械(xie)特性參數(shu)(時(shi)間(jian)、同(tong)期、彈(dan)跳、行(xing)程、速(su)度、操作(zuo)電(dian)壓(ya)、電流(liu)、反(fan)彈(dan)、主(zhu)端口(kou)與輔助(zhu)開(kai)關(guan)的(de)配(pei)合時(shi)間(jian)、機(ji)械(xie)操作(zuo)等(deng)各(ge)項(xiang)數(shu)據(ju)及波(bo)形)。
2. 精確的(de)分(fen)析計(ji)算功能，可(ke)靈活定義(yi)開(kai)關(guan)的(de)速(su)度，大容(rong)量數(shu)據(ju)存(cun)儲直(zhi)接(jie)存(cun)在(zai)硬盤(pan)，並可(ke)進行(xing)數(shu)據(ju)導(dao)入(ru)導(dao)出，方(fang)便查(zha)看(kan)，打(da)印。
3. 儀器(qi)自(zi)帶(dai)內部(bu)可(ke)調(tiao)直流(liu)電源(yuan)，可(ke)進行(xing)合閘、分(fen)閘、重(zhong)合閘測(ce)試(shi)，也(ye)可(ke)進行(xing)低(di)電(dian)壓(ya)動作試(shi)驗(yan)。
4. 面(mian)板(ban)式(shi)寬(kuan)幅(fu)高速(su)熱敏(min)打(da)印機(ji)能隨(sui)時(shi)打(da)印全(quan)部(bu)數(shu)據(ju)及動作特性曲線。
5.  

1）本(ben)產品配備(bei)為7寸真彩(cai)觸摸(mo)屏；
2）自(zi)帶(dai)2個USB接(jie)口(kou)。
3）本(ben)產品測試(shi)數(shu)據(ju)可(ke)以(yi)導出(chu)到(dao)電(dian)腦(nao)上(shang)進行(xing)分(fen)析及打(da)印，但不能直(zhi)接連(lian)接電(dian)腦(nao)進行(xing)現場測試(shi)，也(ye)就是(shi)只(zhi)能本(ben)機操(cao)作(zuo)。

1. Window操(cao)作(zuo)系統(tong)，觸摸(mo)屏操(cao)作，大屏幕(mu)彩色(se)液晶顯(xian)示屏(ping)。
2. 配(pei)有(you)上位機軟件能進壹(yi)步對數(shu)據(ju)分(fen)析、存(cun)儲和(he)各(ge)種報(bao)表的(de)打(da)印。
3. 儀器(qi)自(zi)帶(dai)內部(bu)可(ke)調(tiao)直流(liu)電源(yuan)，可(ke)進行(xing)合閘、分(fen)閘、重(zhong)合閘測(ce)試(shi)，也(ye)可(ke)進行(xing)低(di)電(dian)壓(ya)動作試(shi)驗(yan)。

----------------------------

高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)機(ji)械(xie)特性測試(shi)儀依(yi)據(ju)高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)動測試(shi)儀的(de)新技術(shu)標(biao)準(zhun)開(kai)發(fa)研(yan)制的(de)儀器(qi)。它(ta)以(yi)單(dan)片(pian)機(ji)為核(he)心(xin)，*性的(de)采(cai)用(yong)CPLD存貯轉鼓式(shi)采(cai)樣(yang)技術(shu)，其主(zhu)要特點(dian)是(shi)采(cai)用(yong)旋(xuan)轉式(shi)傳(chuan)感器(qi),傳(chuan)感器(qi)安(an)裝(zhuang)方(fang)便，測(ce)試(shi)精度高，壹(yi)機多用。采(cai)用(yong)漢字(zi)顯(xian)示結果(guo)並可(ke)打(da)印輸出(chu)測試(shi)曲線、測(ce)試(shi)參數(shu)，具(ju)有智(zhi)能化、功能多(duo)、數(shu)據(ju)精確、抗(kang)幹(gan)擾性強、操作(zuo)簡(jian)單(dan)、體積(ji)小、重(zhong)量輕(qing)、外(wai)觀美等(deng)優(you)點(dian)，適(shi)用(yong)於各(ge)種戶內(nei)、戶外(wai)少油(you)、多(duo)油(you)開(kai)關(guan)、真(zhen)空(kong)開(kai)關(guan).

產品別稱(cheng)

· 高(gao)壓(ya)斷路器(qi)機(ji)械(xie)特性測試(shi)儀

· 斷(duan)路器(qi)開(kai)關(guan)動特性綜合測試(shi)儀

· 斷(duan)路器(qi)特(te)性測試(shi)儀

· 斷(duan)路器(qi)/高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)動特性測試(shi)儀

· 高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)測(ce)試(shi)儀

· 高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan)機(ji)械(xie)特性測試(shi)儀

產品功能

1、適(shi)用(yong)於國(guo)內(nei)外(wai)生(sheng)產的(de)所(suo)有(you)型(xing)號(hao)的(de)SF6開(kai)關(guan)、GIS組(zu)合電器(qi)、真(zhen)空(kong)開(kai)關(guan)、油(you)開(kai)關(guan)的(de)機(ji)械(xie)特性試(shi)驗(yan)。u

1. 2、*的(de)抗(kang)幹(gan)擾能力(li)，在(zai)500KV變(bian)電(dian)站(zhan)旁(pang)路母線帶(dai)電(dian)的(de)情況下(xia)，也(ye)能輕(qing)松試(shi)驗(yan)，精確測量。
2. 3、直(zhi)線直(zhi)線傳(chuan)感器(qi)，旋(xuan)轉傳感器(qi)，安(an)裝(zhuang)極(ji)為方(fang)便、簡(jian)捷。
3. 4、開(kai)關(guan)動作壹(yi)次(ci)，得(de)到(dao)開(kai)關(guan)機(ji)械(xie)特性試(shi)驗(yan)所(suo)有數(shu)據(ju)及相(xiang)應(ying)的(de)波(bo)形圖譜(pu)。
4. 5、主(zhu)機(ji)可(ke)存儲(chu)現場試(shi)驗(yan)數(shu)據(ju)，機(ji)內實(shi)時(shi)時(shi)鐘(zhong)，便於存檔(dang)保(bao)存(cun)試(shi)驗(yan)日(ri)期、時(shi)間(jian)。
5. 6、主(zhu)機(ji)大屏幕(mu)、寬溫度、直透(tou)視(shi)、背景光(guang)液晶、全(quan)中(zhong)文(wen)顯(xian)示所(suo)有數(shu)據(ju)及圖(tu)譜(pu)，液晶對比度電子(zi)調(tiao)節、斷(duan)電記(ji)憶(yi)。
6. 7、中(zhong)文(wen)菜(cai)單(dan)操(cao)作(zuo),使(shi)用方(fang)便。儀器(qi)內(nei)置打(da)印機(ji)，隨(sui)時(shi)快(kuai)速(su)打(da)印所(suo)有(you)數(shu)據(ju)及圖(tu)譜(pu)。u
7. 8、儀器(qi)配(pei)有(you)RS-232接(jie)口(kou)，可(ke)與PC機(ji)聯(lian)機操(cao)作(zuo)，也(ye)可(ke)輸出(chu)到(dao)各(ge)類(lei)針(zhen)式(shi)、激(ji)光或噴(pen)墨(mo)打(da)印機(ji)打(da)印試(shi)驗(yan)報(bao)告(gao)，使(shi)現場試(shi)驗(yan)計(ji)算機(ji)化。
8. 9、時(shi)間(jian)：12個(ge)斷(duan)口(kou)的(de)固(gu)有(you)分(fen)、合閘時(shi)間(jian)，同(tong)相(xiang)同(tong)期、相(xiang)間(jian)同(tong)期。
9. 10、重(zhong)合閘：每斷(duan)口(kou)的(de)合－分(fen)，分(fen)－合，分(fen)－合－分(fen)過(guo)程時(shi)間(jian)：壹(yi)分(fen)時(shi)間(jian)、壹(yi)合時(shi)間(jian)、二(er)合時(shi)間(jian)、金(jin)短(duan)時(shi)間(jian)、無電流時(shi)間(jian)值。
10. 11、彈(dan)跳：每斷(duan)口(kou)的(de)合閘彈(dan)跳時(shi)間(jian)，彈(dan)跳次(ci)數(shu)，彈(dan)跳過(guo)程，彈(dan)跳波(bo)形;每斷(duan)口(kou)的(de)分(fen)閘反(fan)彈(dan)幅(fu)值。
11. 12、速(su)度：剛(gang)分(fen)、剛(gang)合速度，zui大速度，時(shi)間(jian)－行(xing)程特(te)性曲線。
12. 13、行(xing)程：總(zong)行(xing)程，開(kai)距(ju)，超(chao)行(xing)程，過(guo)沖行(xing)程，反(fan)彈(dan)幅(fu)值。
13. 14、電(dian)流(liu)：分(fen)、合閘線圈(quan)的(de)分(fen)、合閘電(dian)流(liu)值、電(dian)流(liu)波(bo)形圖。
14. 15、動作電壓(ya)：機內(nei)提供(gong)DC30～250V/20A數(shu)字(zi)可(ke)調(tiao)斷路器(qi)動作電源(yuan)，自動完成(cheng)斷路器(qi)的(de)低(di)電(dian)壓(ya)動作試(shi)驗(yan)，測(ce)量斷(duan)路器(qi)的(de)動作電壓(ya)值。

開(kai)關(guan)機(ji)械(xie)特性測試(shi)儀操作(zuo)方(fang)便，具(ju)有自動測試(shi)功能，完(wan)成(cheng)普(pu)通(tong)的(de)單(dan)合、單(dan)分(fen)測試(shi)僅需(xu)按壹(yi)下(xia)測(ce)試(shi)按鈕(niu)，即可(ke)以(yi)完成(cheng)測試(shi)和(he)結果(guo)顯(xian)示過(guo)程。

◆ 精確的(de)采(cai)樣(yang)技術(shu)，采(cai)樣(yang)頻率(lv)40KHz，幅(fu)值精度16位。

◆ 本(ben)儀器(qi)具(ju)備(bei)彩(cai)色(se)LCD顯(xian)示功能，能在(zai)測量現場顯(xian)示控(kong)制過(guo)程和(he)測(ce)量結果(guo)，並打(da)印結果(guo)。

◆ 儀器(qi)操(cao)作(zuo)方(fang)便，具(ju)有自動測試(shi)功能，完(wan)成(cheng)普(pu)通(tong)的(de)單(dan)合、單(dan)分(fen)測試(shi)僅需(xu)按壹(yi)下(xia)測(ce)試(shi)按鈕(niu)，即可(ke)以(yi)完成(cheng)測試(shi)和(he)結果(guo)顯(xian)示過(guo)程。

◆ 儀器(qi)自(zi)動識(shi)別合、分(fen)閘，防(fang)止用戶(hu)錯誤(wu)操(cao)作。

◆ 能夠(gou)實(shi)現開(kai)關(guan)單(dan)分(fen)、單(dan)合、合分(fen)、分(fen)－θ－合分(fen)、分(fen)－θ－合分(fen)－t－合分(fen)、合分(fen)－t－合分(fen)六種測試(shi)。

◆ 測(ce)量時(shi)可(ke)以(yi)選(xuan)擇不安(an)裝(zhuang)傳(chuan)感器(qi)，而(er)使(shi)用輔(fu)助(zhu)觸點(dian)進行(xing)粗(cu)測(ce)。

◆ 可(ke)以(yi)選(xuan)擇將傳(chuan)感器(qi)安(an)裝(zhuang)在(zai)斷(duan)口(kou)1或斷口(kou)2中A、B、C三相(xiang)中(zhong)的(de)任(ren)意(yi)壹(yi)相(xiang)，靈活設置。

◆ 既(ji)可(ke)以(yi)用位移(yi)傳(chuan)感器(qi)進行(xing)測(ce)量，也(ye)選(xuan)擇角位移(yi)傳(chuan)感器(qi)測(ce)量。

◆ 測(ce)試(shi)的(de)控(kong)制(zhi)方(fang)式(shi)包(bao)含(han)內控(kong)、外(wai)控、手(shou)力(li)合分(fen)三種方(fang)式(shi)。

◆ 能準(zhun)確測試(shi)出分(fen)、合閘線圈(quan)的(de)電(dian)流(liu)峰(feng)值以(yi)及變(bian)化曲線。

◆ 可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)“占(zhan)總行(xing)程百(bai)分(fen)比”、“占(zhan)開(kai)距(ju)的(de)百(bai)分(fen)比”、“時(shi)間(jian)”、“行(xing)程”四種定義(yi)方(fang)式(shi)分(fen)別定(ding)義(yi)觸頭(tou)運(yun)動速度，滿足(zu)各(ge)種速度測試(shi)     要求(qiu)。

◆ 能直(zhi)接精確測量觸頭(tou)開(kai)距(ju)。

◆ 能測(ce)量並顯(xian)示端口(kou)波(bo)形、反(fan)彈(dan)幅(fu)值、彈(dan)跳、超(chao)程、過(guo)沖等。

◆ 可(ke)測試(shi)不同(tong)期、分(fen)、合閘速(su)度、時(shi)間(jian)等(deng)斷(duan)路器(qi)機(ji)械(xie)特性參數(shu)，兼顧(gu)舊標(biao)準(zhun)要求(qiu)測試(shi)的(de)項(xiang)目，同(tong)時(shi)涵(han)蓋(gai)了(le)新標(biao)準(zhun)要求(qiu)測試(shi)項(xiang)目。