MIYGK-J3200高(gao)壓開(kai)關(guan)特性測(ce)試(shi)儀檢(jian)定(ding)裝置用於(yu)校驗和檢測高(gao)壓斷(duan)路(lu)器動特性測(ce)試(shi)儀的(de)時(shi)間(jian)基(ji)準(zhun)，用於(yu)校驗高(gao)壓開(kai)關(guan)測試儀(yi)時(shi)間(jian)測量功能。本裝置既可單機使用，也(ye)可以聯接電(dian)腦(nao)使用。具(ju)體(ti)可以參考(kao)軟件操作說(shuo)明。

MIYGK-J3200高(gao)壓開(kai)關(guan)特性測(ce)試(shi)儀檢(jian)定(ding)裝置

1、概述：

MIYGK-J3200高(gao)壓開(kai)關(guan)特性測(ce)試(shi)儀檢(jian)定(ding)裝置采(cai)用ARM控(kong)制(zhi)配合CPLD芯片(pian)產(chan)生高(gao)精度、寬(kuan)範圍(wei)的定(ding)時信(xin)號(hao)，並(bing)能模(mo)擬(ni)高(gao)壓斷(duan)路(lu)器的(de)動作，可用於(yu)校驗和檢測高(gao)壓斷(duan)路(lu)器動特性測(ce)試(shi)儀的(de)時(shi)間(jian)基(ji)準(zhun)，用於(yu)校驗高(gao)壓開(kai)關(guan)測試儀(yi)時(shi)間(jian)測量功能。本裝置既可單機使用，也(ye)可以聯接電(dian)腦(nao)使用。具(ju)體(ti)可以參考(kao)軟件操作說(shuo)明。

2、主(zhu)要(yao)技(ji)術指標(biao)和使用條(tiao)件：

2.1 本裝置可12路(lu)斷(duan)口同時輸(shu)出，可同時模(mo)擬(ni)12個(ge)高(gao)壓斷(duan)路(lu)器觸頭斷(duan)口的合(he)/分閘(zha)。

2.2 可同時模(mo)擬(ni)高(gao)壓斷(duan)路(lu)器合(he)閘(zha)或分閘(zha)時間，可在 0.01－20000.000ms範圍(wei)內任(ren)意設(she)置，分(fen)辨率(lv)：1μs，

精度：0.001%讀數±0.003ms;

2.3 彈(dan)跳脈沖(chong)個(ge)數(shu)可在0－250 個(ge)範(fan)圍(wei)內任(ren)意設(she)置，彈(dan)跳頻率(lv)1kHz、2kHz、4kHz、8kHz可選擇(ze)。

2.4 支(zhi)持(chi)不同期(qi)測(ce)試(shi)。

2.5 支(zhi)持(chi)內部(bu)觸發(fa)、外部(bu)觸發(fa)、有源觸發(fa)、無源觸發(fa)。

2.6 環(huan)境溫(wen)度：10－30度  環(huan)境濕(shi)度：小於(yu)85％

3、工作原(yuan)理(li)簡(jian)介：

時間(jian)校(xiao)準(zhun)裝置電(dian)路(lu)劃分(fen)為(wei)：觸發(fa)電(dian)路(lu)、高(gao)速(su)可預(yu)置計數器電(dian)路(lu)、高(gao)精度晶(jing)體(ti)振蕩電(dian)路(lu)、單片(pian)機(ji)控(kong)制(zhi)電(dian)路(lu)、輸(shu)出控(kong)制(zhi)電(dian)路(lu)，如(ru)圖(tu)（1）所(suo)示(shi)。

4、儀器(qi)面(mian)板主(zhu)要(yao)部(bu)分(fen)圖(tu)示說明(ming)：             

4.1  12路(lu)斷(duan)口時間(jian)：

模(mo)擬(ni)高(gao)壓斷(duan)路(lu)器12路(lu)觸頭輸(shu)出，前(qian)6路(lu)A1，B1，C1，A2，B2，C2與(yu)其前(qian)端(duan)黑(hei)色接地插(cha)孔共地，後6路(lu)A3，B3，C3，A4，B4，C4與(yu)其前(qian)端(duan)黑(hei)色接地插(cha)孔共地，稱之為(wei)虛地(di)。如(ru)果要(yao)同時測(ce)量12路(lu)，則要(yao)保(bao)證(zheng)兩(liang)個(ge)地(di)相(xiang)連(lian)。

支(zhi)持(chi)每壹個(ge)斷(duan)口設(she)置不(bu)同的時(shi)間，支(zhi)持(chi)不同期(qi)設(she)置。

4.2有源輸(shu)入外(wai)觸發(fa)：

由被(bei)校(xiao)驗的高(gao)壓開(kai)關(guan)測試儀(yi)提供觸發(fa)電(dian)壓，輸(shu)入觸發(fa)電(dian)壓的(de)範圍(wei)為(wei)：DC10－250伏(fu)。

4.3有源輸(shu)出內觸發(fa)：

由本(ben)校(xiao)準(zhun)裝置提供觸發(fa)電(dian)壓來(lai)觸發(fa)被校驗的高(gao)壓開(kai)關(guan)測試儀(yi)，輸(shu)出電(dian)壓：DC 110V左(zuo)右(you)。

4.4 無源(yuan)觸發(fa)端(duan)：

   主(zhu)要(yao)用於(yu)校準(zhun)本(ben)裝置。