YBRZ-C變(bian)壓器繞組變(bian)形測(ce)試(shi)儀(yi)根(gen)據(ju)對(dui)變(bian)壓器內(nei)部繞組特(te)征(zheng)參(can)數(shu)的測量，采(cai)用(yong)目前(qian)世界(jie)發(fa)達國(guo)家(jia)正在(zai)開(kai)發(fa)完善(shan)的(de)內(nei)部故(gu)障頻(pin)率(lv)響應(ying)分(fen)析(xi)(FRA)方法(fa)，能對變(bian)壓器內(nei)部故(gu)障作(zuo)出準(zhun)確判(pan)斷。

YBRZ-C變(bian)壓器繞組變(bian)形測(ce)試(shi)儀(yi)

壹、儀(yi)器概述

YBRZ-C變(bian)壓器繞組變(bian)形測(ce)試(shi)儀(yi)根(gen)據(ju)對(dui)變(bian)壓器內(nei)部繞組特(te)征(zheng)參(can)數(shu)的測量，采(cai)用(yong)目前(qian)世界(jie)發(fa)達國(guo)家(jia)正在(zai)開(kai)發(fa)完善(shan)的(de)內(nei)部故(gu)障頻(pin)率(lv)響應(ying)分(fen)析(xi)(FRA)方法(fa)，能對變(bian)壓器內(nei)部故(gu)障作(zuo)出準(zhun)確判(pan)斷。

    變(bian)壓器設計制(zhi)造(zao)完(wan)成後(hou)，其(qi)線(xian)圈(quan)和內(nei)部結構(gou)就確定(ding)下(xia)來，因此(ci)對(dui)壹臺(tai)多繞組的變(bian)壓器線圈(quan)而言，如(ru)果(guo)電(dian)壓等(deng)級(ji)相(xiang)同、繞制方法(fa)相(xiang)同，則(ze)每個線圈(quan)對應(ying)參(can)數(shu)(Ci、Li)就應(ying)該是確定(ding)的。因此(ci)每(mei)個線(xian)圈(quan)的頻域(yu)特(te)征(zheng)響應(ying)也(ye)隨(sui)之(zhi)確(que)定(ding)，對應(ying)的三(san)相(xiang)線圈(quan)之間其(qi)頻(pin)率(lv)圖(tu)譜具(ju)有(you)壹定(ding)可比性(xing)。

    變(bian)壓器在(zai)試(shi)驗過程(cheng)中(zhong)發(fa)生匝(za)間、相(xiang)間短(duan)路，或(huo)在(zai)運(yun)輸過程(cheng)中(zhong)發(fa)生沖撞，造(zao)成線(xian)圈(quan)相(xiang)對位移(yi)，以(yi)及運(yun)行過程(cheng)中(zhong)在(zai)短(duan)路和(he)故障狀(zhuang)態下(xia)因電(dian)磁拉(la)力(li)造(zao)成線(xian)圈(quan)變(bian)形，就會(hui)使(shi)變(bian)壓器繞組的分(fen)布參(can)數(shu)發(fa)生變(bian)化。進(jin)而影(ying)響並改(gai)變(bian)變(bian)壓器原(yuan)有(you)的頻域(yu)特(te)征(zheng)，即頻(pin)率(lv)響應(ying)發(fa)生幅(fu)度變(bian)化和(he)諧(xie)振(zhen)頻點偏(pian)移(yi)等(deng)。並根(gen)據(ju)響應(ying)分(fen)析(xi)方法(fa)研(yan)制(zhi)開(kai)發(fa)的變(bian)壓器繞組測試(shi)儀(yi)，就是這(zhe)樣壹(yi)種(zhong)新穎的變(bian)壓器內(nei)部故(gu)障無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)設備(bei)。它(ta)適(shi)用(yong)於63kV～500kV電(dian)力(li)變(bian)壓器的內(nei)部結構(gou)故障檢(jian)測(ce)。

   變(bian)壓器繞組變(bian)形測(ce)試(shi)儀(yi)是將(jiang)變(bian)壓器內(nei)部繞組參(can)數(shu)在(zai)不同頻域的響應(ying)變(bian)化經量化處(chu)理(li)後(hou)，根(gen)據(ju)其(qi)變(bian)化量值(zhi)的(de)大(da)小、頻響變(bian)化的(de)幅(fu)度(du)、區域和頻響變(bian)化的(de)趨(qu)勢(shi)，來確定(ding)變(bian)壓器內(nei)部繞組的變(bian)化程(cheng)度，進(jin)而可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)測(ce)量結果判斷變(bian)壓器是否(fou)已(yi)經受(shou)到嚴重(zhong)破(po)壞(huai)、是否需(xu)要進(jin)行大(da)修。

對(dui)於運(yun)行中(zhong)的(de)變(bian)壓器而言(yan)，無(wu)論(lun)過去是(shi)否(fou)保存有(you)頻域特(te)征(zheng)圖，通(tong)過比較故障變(bian)壓器線圈(quan)間特(te)征(zheng)圖譜(pu)的(de)差(cha)異，也(ye)可以(yi)對(dui)故障程(cheng)度進(jin)行判(pan)斷。當(dang)然，如(ru)果(guo)保存有(you)壹套變(bian)壓器原(yuan)有(you)的繞組特(te)征(zheng)圖，更(geng)易(yi)對(dui)變(bian)壓器的運(yun)行狀(zhuang)況(kuang)、事(shi)故後分(fen)析(xi)和維護檢(jian)修(xiu)提供更(geng)為精(jing)確(que)有(you)力的依(yi)據。

國(guo)家(jia)電(dian)力(li)公(gong)司(si)頒(ban)發(fa)的[2000] 589 號(hao)文件(jian)《防止電(dian)力生(sheng)產(chan)重(zhong)大事(shi)故的(de)二十五(wu)項重(zhong)點要求》中(zhong)15.2條明確(que)規(gui)定(ding)：“110KV及以(yi)上(shang)電壓等(deng)級(ji)變(bian)壓器在(zai)出廠和(he)投(tou)產(chan)前(qian)應(ying)做低(di)電壓短(duan)路阻(zu)抗測(ce)試(shi)或用(yong)頻響法(fa)測(ce)試(shi)繞組變(bian)形以(yi)保留(liu)原(yuan)始(shi)記錄。"15.6 中(zhong)規(gui)定(ding)：“變(bian)壓器在(zai)遭受(shou)近(jin)區突發(fa)短(duan)路後(hou)，應(ying)做低(di)電壓短(duan)路阻(zu)抗測(ce)試(shi)或用(yong)頻響法(fa)測(ce)試(shi)繞組變(bian)形，並與原(yuan)始(shi)記錄比較，判斷變(bian)壓器後，方可(ke)投運(yun)。"低(di)電壓阻(zu)抗(kang)測試(shi)能準(zhun)確反(fan)映(ying)變(bian)壓器在(zai)繞組變(bian)形前(qian)後(hou)阻(zu)抗(kang)值的變(bian)化。

2005年6月國(guo)家(jia)電(dian)網(wang)公(gong)司(si)在(zai)《十八(ba)項電網(wang)重(zhong)大反(fan)事(shi)故(gu)措(cuo)施》的(de)9.2.3和(he)9.7.2中(zhong)再(zai)次要(yao)求：110kV及以(yi)上(shang)電壓等(deng)級(ji)變(bian)壓器在(zai)出廠和(he)投(tou)產(chan)前(qian)，應(ying)做低(di)電壓短(duan)路阻(zu)抗測(ce)試(shi)，以(yi)留(liu)原(yuan)始(shi)記錄。110kV及以(yi)上(shang)電壓等(deng)級(ji)變(bian)壓器在(zai)遭受(shou)出(chu)口短(duan)路、近(jin)區多次(ci)短(duan)路後(hou)，應(ying)做低(di)電壓短(duan)路阻(zu)抗測(ce)試(shi)，並與原(yuan)始(shi)記錄進(jin)行比較，同時(shi)應(ying)結合短(duan)路事(shi)故沖擊後(hou)的其(qi)他(ta)電(dian)氣試(shi)驗項目進(jin)行綜(zong)合分(fen)析(xi)。判斷變(bian)壓器後，方可(ke)投運(yun)。正常(chang)運(yun)行的(de)變(bian)壓器應(ying)至少每6年測(ce)壹(yi)次。

國(guo)家(jia)標(biao)準(zhun)《GB1094.5－2003  電力(li)變(bian)壓器  第五部(bu)分(fen)  承(cheng)受(shou)短(duan)路的(de)能力(li)》將(jiang)短(duan)路電(dian)抗值(zhi)作(zuo)為診斷變(bian)壓器是否(fou)承(cheng)受(shou)住(zhu)了(le)短(duan)路電(dian)流沖擊的(de)規(gui)定(ding)項目。並特(te)別(bie)強調：“觀察(cha)測量電(dian)抗(kang)的(de)變(bian)化是(shi)特(te)別(bie)重(zhong)要的(de)"。

2008年11月1日實施的(de)《DL/T1093-2008電(dian)力變(bian)壓器繞組變(bian)形的(de)電(dian)抗(kang)法檢(jian)測(ce)判斷導(dao)則》規(gui)定(ding)：現場(chang)可(ke)采(cai)用(yong)低(di)電壓試(shi)驗電(dian)源(yuan)實(shi)測電(dian)力(li)變(bian)壓器繞組和鐵芯的(de)動穩(wen)定(ding)狀態參(can)數(shu)，用(yong)以(yi)判(pan)斷變(bian)壓器繞組有(you)無(wu)變(bian)形或(huo)位移(yi)。確定(ding)變(bian)壓器繞組及鐵心的動穩(wen)定(ding)狀態。導(dao)則(ze)對檢(jian)測(ce)時(shi)機 、檢(jian)測(ce)參(can)數(shu)、檢(jian)測(ce)方法(fa)、測試(shi)儀(yi)器、判斷原(yuan)理、判(pan)斷的(de)定(ding)量界(jie)限(xian)都作(zuo)了(le)規(gui)定(ding)或提示。

 2008年11月1日實施的(de)《DL/T1093-2008 電(dian)力變(bian)壓器繞組變(bian)形的(de)電(dian)抗(kang)法檢(jian)測(ce)判斷導(dao)則》將(jiang)使(shi)得(de)電抗(kang)法(fa)測(ce)試(shi)有(you)法可依(yi)，有(you)明確的(de)判(pan)據可(ke)用(yong)。

變(bian)壓器繞組變(bian)形測(ce)試(shi)儀(yi)由筆(bi)記本(ben)電(dian)腦(nao)及單(dan)片機構(gou)成高精度測(ce)量系(xi)統,結構(gou)緊(jin)，操(cao)作(zuo)簡單(dan)，具(ju)有(you)較完備(bei)的測(ce)試(shi)分(fen)析(xi)功能(neng)，對照(zhao)使(shi)用(yong)說(shuo)明書(shu)或經過短(duan)期(qi)培(pei)訓即(ji)可自行操(cao)作(zuo)使(shi)用(yong)。

二、 主要(yao)技術(shu)特(te)點

1、采集控制采用(yong)高速、高集成化微(wei)處(chu)理(li)器。

2、筆(bi)記本(ben)電(dian)腦(nao)與儀(yi)器之間通(tong)信USB接口(kou)。

3、筆(bi)記本(ben)電(dian)腦(nao)與儀(yi)器之間通(tong)信無(wu)線(xian)藍牙(ya)接口(kou)（選配(pei)件(jian)）。

4、硬件(jian)機芯采(cai)用(yong)DDS專用(yong)數字(zi)高速掃(sao)頻(pin)技術(shu)(美國(guo))，通(tong)過測試(shi)可以(yi)準(zhun)確診(zhen)斷出(chu)繞組發(fa)生扭曲(qu)、鼓包(bao)、移(yi)位、傾(qing)斜(xie)、匝間短(duan)路變(bian)形及相(xiang)間接(jie)觸(chu)短(duan)路等(deng)故障。

5、高速雙通道16位A/D采(cai)樣(現(xian)場(chang)試(shi)驗改(gai)變(bian)分(fen)接(jie)開(kai)關，波(bo)形(xing)曲(qu)線有(you)明變(bian)化)。

6、信號(hao)輸(shu)出幅(fu)度軟(ruan)件(jian)調(tiao)節(jie)，最大(da)幅(fu)度(du)峰(feng)值(zhi)±10V。

7、計算機將(jiang)檢(jian)測(ce)結果自動分(fen)析(xi)和生(sheng)成電(dian)子文檔(dang)(Word)

8、儀(yi)器具(ju)有(you)線性(xing)掃頻(pin)測(ce)量和(he)分(fen)段(duan)掃頻測量雙測量系(xi)統功能(neng),兼(jian)容(rong)當前(qian)國(guo)內(nei)兩種(zhong)技術(shu)流派的(de)測量模式(shi)

9、幅(fu)頻特(te)性(xing)符(fu)合國(guo)家(jia)關(guan)於幅(fu)頻(pin)特(te)性(xing)測試(shi)儀(yi)的技術(shu)指(zhi)標。橫(heng)坐標（頻率(lv)）具(ju)有(you)線性(xing)分(fen)度(du)及對數分(fen)度(du)兩種(zhong)，因此(ci)打(da)印出(chu)的曲(qu)線可(ke)以(yi)是(shi)線性(xing)分(fen)度(du)曲(qu)線也(ye)可以(yi)是(shi)對數(shu)分(fen)度(du)曲(qu)線，用(yong)戶可(ke)根(gen)據(ju)實(shi)際需(xu)要選(xuan)用(yong)。

10、檢(jian)測(ce)數據(ju)自動分(fen)析(xi)系(xi)統,

橫向比較A、B 、C三(san)相(xiang)之間進(jin)行繞組相(xiang)似性(xing)比較,

其(qi)分(fen)析(xi)結果為:

①壹致(zhi)性(xing)很好

②壹致(zhi)性(xing)較好

③壹致(zhi)性(xing)較差(cha)

④壹(yi)致(zhi)性(xing)很差,

縱向比較A-A、B-B、C-C調取(qu)原(yuan)數據(ju)與當(dang)前(qian)數(shu)據(ju)同(tong)相(xiang)之間進(jin)行繞組變(bian)形比較，

其(qi)分(fen)析(xi)結果為:

①正常(chang)繞組

②輕度(du)變(bian)形

③中(zhong)度(du)變(bian)形

④嚴重(zhong)變(bian)形

11、可(ke)自動生(sheng)成Word電(dian)子文檔(dang)，供保存和打(da)印。

12、該(gai)儀(yi)器滿(man)足(zu)電(dian)力標(biao)準(zhun)DL/T911－2004《電力(li)變(bian)壓器繞組變(bian)形的(de)頻(pin)率(lv)響應(ying)分(fen)析(xi)法》的(de)技術(shu)條件。

三(san)、 主要(yao)技術(shu)參(can)數(shu)

3.1 掃描(miao)方式(shi)：

1．線性(xing)掃描(miao)分(fen)布

掃頻(pin)測量範(fan)圍(wei)：(10Hz)-(10MHz)40000掃(sao)頻(pin)點、分(fen)辨(bian)率為0.25kHz、0.5kHz和1kHz

2．分(fen)段(duan)掃頻測量分(fen)布

掃頻(pin)測量範(fan)圍(wei)：(0.5kHz)-(1MHz)、2000掃(sao)頻(pin)點；

(0.5kHz)-(10kHz)

(10kHz)-(100kHz)

(100kHz)-(500kHz)

(500kHz)-(1000kHz)

3.2 其(qi)他(ta)技術(shu)參(can)數(shu)：

1、幅度測量範(fan)圍(wei): (-120dB)至(zhi)(+20dB)

2、幅(fu)度(du)測(ce)量精(jing)度(du):   0.1dB

3、掃(sao)描(miao)頻(pin)率(lv)精(jing)度(du):   0.01%

4、信號(hao)輸(shu)入阻(zu)抗：  1MΩ

5、信號(hao)輸(shu)出阻(zu)抗：  50Ω

6、信號(hao)輸(shu)出幅(fu)值：  ±20V

7、同(tong)相(xiang)測試(shi)重(zhong)復率(lv)：99.9%

8、測量儀(yi)器尺寸(長(chang)寬(kuan)高)300X340X120(mm)

9、儀(yi)器鋁(lv)合(he)金(jin)箱(xiang)尺(chi)寸(長(chang)寬(kuan)高)310X400X330(mm)

10、總體(ti)重(zhong)量:10Kg