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高壓絕緣耐壓(ya)設(she)備
沖(chong)擊(ji)電(dian)壓發(fa)生(sheng)器(qi)
MECJ-H 程控(kong)自動沖(chong)擊(ji)電(dian)壓試驗儀

產品簡(jian)介(jie)
產品分(fen)類
MECJ-H 程控(kong)自動沖(chong)擊(ji)電(dian)壓試驗儀
簡(jian)介(jie)
MECJ-H 程控(kong)自動沖(chong)擊(ji)電(dian)壓試驗儀是(shi)用(yong)於充電(dian)樁、太陽(yang)能、低(di)壓(ya)成(cheng)套、低(di)壓(ya)電(dian)器(qi)、電(dian)度表、電(dian)機、電(dian)線電(dian)纜、漏電(dian)保(bao)護(hu)器(qi)等產品安(an)全(quan)性能檢(jian)測的(de)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓試驗儀器(qi),是低(di)壓(ya)成(cheng)套、低(di)壓(ya)電(dian)器(qi)企業(ye)的(de)“3C"認(ren)證(zheng)檢(jian)驗設(she)備。設備(bei)采用(yong)高速(su)單片(pian)機設(she)計,手動(dong)、自動、程控(kong)多(duo)模(mo)式(shi),液(ye)晶(jing)顯(xian)示,觸摸(mo)按鍵(jian)設計,具(ju)有(you)操(cao)作(zuo)方便、性能穩(wen)定可靠、自動化程度高的(de)優(you)點(dian)。
手動(dong)模(mo)式(shi)狀(zhuang)態下(xia),儀器(qi)的(de)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓值(zhi)需(xu)用(yong)手動(dong)調(tiao)節旋鈕調(tiao)節,沖(chong)擊(ji)電(dian)壓實(shi)驗前,需在未(wei)接(jie)入測試狀(zhuang)態下(xia),預(yu)先手動(dong)調(tiao)節預沖(chong)擊(ji)電(dian)壓值(zhi),然(ran)後再(zai)接(jie)入系(xi)統(tong)進(jin)行(xing)測試。自動模式(shi)下,可直接(jie)將(jiang)儀器(qi)接(jie)入測試系(xi)統(tong),然(ran)後(hou)進入菜(cai)單(dan)設(she)置,設置預(yu)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓值(zhi)後(hou),儀器(qi)就(jiu)可以根據設置輸(shu)出沖(chong)擊(ji)電(dian)壓脈沖(chong)進(jin)行測試。程控(kong)狀(zhuang)態下(xia),可以通過(guo)計算(suan)機或(huo)者(zhe)工(gong)業(ye)網絡(luo)直接(jie)控(kong)制(zhi)儀器(qi)設備(bei)的(de)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓,間隔(ge)時(shi)間(jian),沖(chong)擊(ji)次數,進行(xing)沖(chong)擊(ji)實(shi)驗,儀器(qi)還可以通過(guo)網絡(luo)向計算(suan)機或(huo)者(zhe)工(gong)業(ye)網絡(luo)分(fen)次返(fan)回每次(ci)測試的(de)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓值(zhi)結(jie)果(guo)。儀器(qi)通過(guo)檢(jian)測測試時(shi)的(de)沖(chong)擊(ji)電(dian)流值(zhi)和電(dian)壓衰(shuai)變(bian)程序判(pan)定是(shi)否擊(ji)穿(chuan)。自動模式(shi)和程控(kong)模(mo)式(shi)包(bao)含自動恒(heng)壓(ya)系(xi)統(tong),可以1V為步進(jin)設(she)置(zhi)沖(chong)擊(ji)輸(shu)出電(dian)壓峰(feng)值(zhi),輸(shu)出沖(chong)擊(ji)電(dian)壓不受間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)影響。
通過(guo)使(shi)用(yong)配(pei)套的(de)計算(suan)機控(kong)制(zhi)程序,可以實(shi)現(xian)多(duo)組(zu)合(he)測試項目,可以實(shi)現(xian)自低(di)電(dian)壓到(dao)高電(dian)壓,自正極性到(dao)負(fu)極性(正負(fu)款(kuan))的(de)多(duo)組(zu)合(he)測試。測試結果(guo)數字(zi)圖(tu)形雙(shuang)顯(xian)示,形象(xiang)直觀。
儀器(qi)提(ti)供外(wai)置(zhi)采樣(yang)接(jie)口(kou),可用(yong)於沖(chong)擊(ji)波形的(de)跟(gen)蹤(zong)與(yu)監測,采樣(yang)接(jie)口(kou)的(de)分(fen)壓比(bi)為(wei)1/155(出廠(chang)檢(jian)驗值(zhi))。提(ti)供顯(xian)示精度(du)再(zai)修(xiu)正功(gong)能,可隨時(shi)設(she)置顯(xian)示修(xiu)正系(xi)數(shu),使(shi)儀器(qi)顯(xian)示和標準(zhun)相壹致。
產品別(bie)稱:程控(kong)自動沖(chong)擊(ji)電(dian)壓試驗儀,沖(chong)擊(ji)電(dian)壓發(fa)生(sheng)器(qi),沖(chong)擊(ji)電(dian)壓試驗儀,電(dian)壓沖(chong)擊(ji)試驗測試儀,沖(chong)擊(ji)耐壓(ya)測試儀,程控(kong)耐電(dian)壓測試儀
產品參(can)數
輸(shu)出電(dian)壓 | 輸(shu)出直(zhi)流(liu) | 0-±24kV;精(jing)度±3% |
沖(chong)擊(ji)峰(feng)值(zhi) | ±20kV;精(jing)度±3%F(可修(xiu)正) | |
沖(chong)擊(ji)電(dian)壓波 | 波(bo)前時(shi)間(jian) | 1.2μs±30% |
波後半(ban)值(zhi)時(shi)間(jian) | 50μs±20% | |
程控(kong)及(ji)自動 | 檔位 | ±4kV-±20kV,1V步進(jin) |
程控(kong)精(jing)度 | ±3% | |
次數 | 1-9999次(ci) | |
間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian) | 5-99S;(默(mo)認(ren)5S) | |
沖(chong)擊(ji)電(dian)壓通訊(xun)方式(shi) | 485-USB | |
手動(dong) | 沖(chong)擊(ji)峰(feng)值(zhi) | ±2-±20kV |
沖(chong)擊(ji)次數 | 1-9999次,0為(wei)連(lian)續無(wu)限次(ci)沖(chong)擊(ji) | |
間隔(ge)時(shi)間(jian) | 1-99s | |
漏電(dian)流測試 | 擊穿(chuan)電(dian)流設置(zhi)範(fan)圍(wei):30mA-1200mA;用(yong)於輔(fu)助(zhu)判定是(shi)否合(he)格(ge) | |
電(dian)源條件(jian) | 額(e)定電(dian)壓 AC220V±10%,50Hz;額(e)定功(gong)耗 200VA | |
環(huan)境條件(jian) | 環境溫度(du) 0-40℃ 環(huan)境濕(shi)度不大於80% | |
外(wai)形(xing)尺寸 | 450x380x240mm3 | |
重(zhong)量主(zhu)機約(yue) | 12kg | |
產品特征
1、手動(dong)/自動/程控(kong)模(mo)式(shi);手動(dong)模(mo)式(shi)通過(guo)調(tiao)節旋鈕手動(dong)調(tiao)節沖(chong)擊(ji)電(dian)壓,自動模式(shi)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓值(zhi)由(you)系(xi)統(tong)自動調(tiao)節,程控(kong)模(mo)式(shi)使(shi)用(yong)計算(suan)機自動控(kong)制(zhi)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓值(zhi)
2、自動模式(shi)和程控(kong)模(mo)式(shi)具有(you)自動恒(heng)壓(ya)系(xi)統(tong),控(kong)制(zhi)沖(chong)擊(ji)輸(shu)出電(dian)壓更(geng)精(jing)細,且(qie)不受間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)影響
3、程控(kong)功(gong)能提(ti)供485通訊(xun)接(jie)口(kou)及(ji)程控(kong)協議(yi),可根據需要(yao)組(zu)建程控(kong)測試系(xi)統(tong),通過(guo)計算(suan)機或(huo)者(zhe)程控(kong)網(wang)絡控(kong)制(zhi)沖(chong)擊(ji)電(dian)壓及(ji)各(ge)項參(can)數(程控(kong)觸(chu)發(fa))
4、可通過(guo)計算(suan)機程控(kong)軟(ruan)件(jian),實(shi)現(xian)批量組(zu)合測試,如2kV3次(ci)、4kV3次(ci)、6kV3次(ci)、-2kV3次、-4kV3次、-6kV3次等,可實(shi)現(xian)最(zui)大50組組合(he)測試,並向計算(suan)機反(fan)饋(kui)擊(ji)穿(chuan)次數(shu)、擊(ji)穿(chuan)電(dian)壓等測試結果(guo),計算(suan)機以(yi)圖(tu)形顯(xian)示反(fan)饋(kui)結(jie)果(guo),使(shi)判斷更(geng)直(zhi)觀
5、可使(shi)用(yong)計算(suan)機打(da)印(yin)生(sheng)成(cheng)測試報(bao)告(gao),顯(xian)示沖(chong)擊(ji)峰(feng)值(zhi)、次(ci)數、間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)等測試數據
6、測試結果(guo)自動判定功(gong)能,可以根據測試時(shi)產生(sheng)的(de)沖(chong)擊(ji)電(dian)流大小(xiao)和衰(shuai)減(jian)程度自動判定測試合格(ge)與(yu)否
7、提(ti)供沖(chong)擊(ji)分(fen)壓接(jie)口(kou),用(yong)於示波(bo)器(qi)跟(gen)蹤(zong)輸(shu)出電(dian)壓波形(xing)及(ji)監控(kong)輸(shu)出電(dian)壓
8、12864液(ye)晶(jing)顯(xian)示,同(tong)時(shi)顯(xian)示直流(liu)電(dian)壓、沖(chong)擊(ji)電(dian)壓、間隔(ge)時(shi)間(jian)、沖(chong)擊(ji)次數
9、觸摸(mo)按鍵(jian),微(wei)電(dian)腦控(kong)制(zhi),中文面(mian)板,可選中(zhong)/英(ying)文面(mian)板及(ji)程序菜(cai)單(dan),方便出口(kou)
10、正(zheng)負(fu)極性由正(zheng)高壓源負(fu)高壓源雙系(xi)統(tong)設(she)計,輸(shu)出更(geng)穩(wen)定,電(dian)壓更(geng)高,效率更(geng)高
11、全(quan)量程標定流(liu)程,全(quan)量程精度(du)更(geng)好(hao)
12、內(nei)置(zhi)多(duo)種(zhong)參(can)數標準(zhun)標定程序,檢(jian)定時(shi)可隨時(shi)修(xiu)正誤(wu)差
13、直(zhi)流、沖(chong)擊(ji)雙輸(shu)出
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