MIYM-S手(shou)持(chi)式(shi)絕緣(yuan)子(zi)鹽密度(du)測試(shi)儀可(ke)測量(liang)絕緣(yuan)子(zi)鹽密度(du)，本(ben)設(she)備(bei)簡化(hua)了絕緣(yuan)子(zi)汙穢檢(jian)測的流(liu)程(cheng)，非(fei)常(chang)適合(he)巡檢(jian)現(xian)場(chang)和實(shi)驗室使用(yong)。

MIYM-S手(shou)持(chi)式(shi)絕緣(yuan)子(zi)鹽密度(du)測試(shi)儀

MIYM-S手(shou)持(chi)式(shi)絕緣(yuan)子(zi)鹽密度(du)測試(shi)儀為便攜(xie)式(shi)檢(jian)測設(she)備(bei)，主(zhu)要用(yong)於(yu)檢(jian)測電(dian)力線(xian)路中(zhong)絕緣(yuan)子(zi)的汙穢附(fu)著情(qing)況。該儀器可(ke)測量(liang)絕緣(yuan)子(zi)鹽密度(du)，本(ben)設(she)備(bei)簡化(hua)了絕緣(yuan)子(zi)汙穢檢(jian)測的流(liu)程(cheng)，非(fei)常(chang)適合(he)巡檢(jian)現(xian)場(chang)和實(shi)驗室使用(yong)。電(dian)力線(xian)路中(zhong)絕緣(yuan)子(zi)的汙穢程(cheng)度(du)可(ke)以(yi)通過(guo)鹽(yan)密(mi)度(du)（ESDD）來(lai)表征(zheng)。本(ben)設(she)備(bei)內(nei)置(zhi)了常(chang)用(yong)溶液體積、絕緣(yuan)子(zi)型號(hao)，方便用(yong)戶直(zhi)接(jie)調(tiao)用(yong)，絕緣(yuan)子(zi)型號(hao)與(yu)表面(mian)積支(zhi)持(chi)用(yong)戶自定義(yi)。增(zeng)加(jia)數據保存(cun)功(gong)能(neng)，可(ke)保(bao)存(cun)1000組測試(shi)數(shu)據，本(ben)機查看(kan)數(shu)據，支(zhi)持(chi)U盤導出(chu)數據,導出(chu)數據可(ke)以(yi)EXECL打(da)開，方便用(yong)戶在(zai)計算(suan)機(ji)上(shang)查看(kan)。具備(bei)藍(lan)牙(ya)打(da)印功(gong)能(neng)，通過(guo)連(lian)接(jie)外(wai)置(zhi)藍牙(ya)打(da)印(yin)機可(ke)將測量(liang)結果打印(yin)出(chu)。用(yong)戶在(zai)30分鐘(zhong)後(hou)無使用(yong)自動(dong)關(guan)機。

檢(jian)測儀各(ge)部分(fen)組成如(ru)圖(tu)2.1所示，各(ge)部分(fen)功(gong)能(neng)如(ru)下：

主(zhu)機：圖(tu)1.1為測量(liang)顯示主(zhu)機。主(zhu)機上(shang)包含(han)開機(ji)按(an)鍵(jian)、充電(dian)孔(kong)、和USB接(jie)口以(yi)及鹽(yan)密灰密(mi)傳(chuan)感器接(jie)口。

電(dian)極(ji)傳(chuan)感器：圖(tu)2.1為雙極(ji)性(xing)-鉑(bo)金(jin)電(dian)極(ji)。

2.2 主(zhu)要參(can)數(shu)表及相(xiang)關(guan)術語

相(xiang)關(guan)術語：

1、參(can)照盤形懸式(shi)絕緣(yuan)子(zi) reference cap and pin insulator

XP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式(shi)絕緣(yuan)子(zi)（根(gen)據(ju)GB/T 7253），通常(chang)7~9片(pian)組成壹(yi)串用(yong)來(lai)測量(liang)現場(chang)汙穢度(du)。

2、爬電(dian)距(ju)離(li) creepage distance

在(zai)兩個導電(dian)部(bu)分(fen)之(zhi)間，沿(yan)絕緣(yuan)體(ti)表面(mian)的(de)最(zui)短距(ju)離(li)。

註(zhu)：水(shui)泥或(huo)其(qi)他(ta)非(fei)絕緣(yuan)膠合(he)材(cai)料(liao)表面(mian)不認(ren)為是(shi)爬電(dian)距(ju)離(li)的構(gou)成部(bu)分(fen)。如(ru)果絕緣(yuan)子(zi)的絕緣(yuan)件(jian)的某些(xie)部(bu)分覆(fu)蓋有(you)高電(dian)阻(zu)層(ceng)，則(ze)該部(bu)分(fen)應(ying)認(ren)為是(shi)有效(xiao)絕緣(yuan)表面(mian)並且(qie)沿其(qi)上(shang)面(mian)的(de)距(ju)離(li)應(ying)包(bao)括(kuo)在(zai)爬電(dian)距(ju)離(li)內。

3、統(tong)壹爬電(dian)比距(ju) unified specific creepage distance（USCD）

絕緣(yuan)子(zi)的爬電(dian)距(ju)離(li)與其(qi)兩(liang)端(duan)承(cheng)擔(dan)的(de)最(zui)高(gao)運行電(dian)壓(ya)（對(dui)於(yu)交流(liu)系(xi)統(tong)，為最(zui)高(gao)相(xiang)電(dian)壓(ya)）之(zhi)比，mm/kV。

4、附(fu)鹽(yan)密度(du) salt deposit density（SDD）

人工塗(tu)覆(fu)於(yu)給定(ding)絕緣(yuan)子(zi)表面(mian)（不包括(kuo)金(jin)屬部(bu)件(jian)和裝(zhuang)配(pei)材(cai)料(liao)）上(shang)氯(lv)化(hua)鈉(na)總量(liang)除以(yi)表面(mian)積，mg/cm²。

5、等(deng)值附(fu)鹽密(mi)度(du) equivalent salt deposit density（ESDD）

絕緣(yuan)子(zi)單(dan)位(wei)絕緣(yuan)表面(mian)上(shang)的等(deng)值附(fu)鹽量(liang)，mg/cm²。

6、不溶物(wu)密度(du)（簡稱(cheng)灰密(mi)） non soluble deposit density（NSDD）

絕緣(yuan)子(zi)單(dan)位(wei)絕緣(yuan)表面(mian)上(shang)清洗(xi)的非(fei)可(ke)溶殘留物(wu)總量(liang)除以(yi)表面(mian)積，mg/cm²。

7、現(xian)場(chang)等值鹽(yan)度(du) site equivalent salinity（SES）

根(gen)據(ju)GB/T 4585進(jin)行鹽霧試(shi)驗時的(de)鹽度(du)。用(yong)該鹽(yan)度(du)試(shi)驗，在(zai)相(xiang)同(tong)絕緣(yuan)子(zi)和相(xiang)同(tong)電(dian)壓(ya)下，產(chan)生的(de)泄露(lu)電(dian)流(liu)峰(feng)值與(yu)現場(chang)自然汙穢條件(jian)下的泄露(lu)電(dian)流(liu)基(ji)本(ben)相(xiang)同(tong)。

8、現場(chang)汙穢度(du) site pollution severity（SPS）

在(zai)適當(dang)的(de)時(shi)間段內(nei)測量(liang)到(dao)的汙穢嚴(yan)重(zhong)程(cheng)度(du)ESDD/NSDD或(huo)SES的(de)最(zui)大(da)值。

9、現(xian)場(chang)汙穢度(du)等(deng)級(ji) site pollution severity class

將汙穢嚴(yan)重(zhong)程(cheng)度(du)從非(fei)常(chang)輕到(dao)非(fei)常(chang)嚴重(zhong)按(an)SPS的(de)分級(ji)。

10、帶電(dian)系(xi)數(shu)K1 energy coefficient K1

同(tong)形(xing)式(shi)絕緣(yuan)子(zi)帶電(dian)所(suo)測ESDD/NSDD（SES）值與(yu)非(fei)帶電(dian)所(suo)測ESDD/NSDD（SES）值之(zhi)比，K1壹(yi)般(ban)為1.1~1.5。