HPS5120精(jing)密(mi)多路(lu)電阻(zu)測試儀采(cai)用高(gao)性能(neng)ARM微(wei)處(chu)理器和高(gao)密(mi)度SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝(yi)，米(mi)遠科技(ji)優化(hua)和創(chuang)新了測量技(ji)術，很(hen)好地消除了(le)熱電對(dui)被測元件(jian)接觸(chu)的影響(xiang)而引起(qi)的潛(qian)在(zai)誤(wu)差(cha)。

HPS2510-16精(jing)密(mi)多路(lu)電阻(zu)測試儀采(cai)用高(gao)性能(neng)ARM微(wei)處(chu)理器和高(gao)密(mi)度SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝(yi)，米(mi)遠科技(ji)優化(hua)和創(chuang)新了測量技(ji)術，很(hen)好地消除了(le)熱電對(dui)被測元件(jian)接觸(chu)的影響(xiang)而引起(qi)的潛(qian)在(zai)誤(wu)差(cha)

HPS5112精(jing)密(mi)多路(lu)電阻(zu)測試儀采(cai)用高(gao)性能(neng)ARM微(wei)處(chu)理器和高(gao)密(mi)度SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝(yi)，米(mi)遠科技(ji)優化(hua)和創(chuang)新了測量技(ji)術，很(hen)好地消除了(le)熱電對(dui)被測元件(jian)接觸(chu)的影響(xiang)而引起(qi)的潛(qian)在(zai)誤(wu)差(cha)。

HPS5110精(jing)密(mi)多路(lu)電阻(zu)測試儀采(cai)用高(gao)性能(neng)ARM微(wei)處(chu)理器和高(gao)密(mi)度SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝(yi)，米(mi)遠科技(ji)優化(hua)和創(chuang)新了測量技(ji)術，很(hen)好地消除了(le)熱電對(dui)被測元件(jian)接觸(chu)的影響(xiang)而引起(qi)的潛(qian)在(zai)誤(wu)差(cha)。

HPS2510-8精(jing)密(mi)多路(lu)電阻(zu)測試儀采(cai)用高(gao)性能(neng)ARM微(wei)處(chu)理器和高(gao)密(mi)度SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝(yi)，米(mi)遠科技(ji)優化(hua)和創(chuang)新了測量技(ji)術，很(hen)好地消除了(le)熱電對(dui)被測元件(jian)接觸(chu)的影響(xiang)而引起(qi)的潛(qian)在(zai)誤(wu)差(cha)。

HPS5106六(liu)路(lu)電阻(zu)測試儀采(cai)用高(gao)性能(neng)ARM微(wei)處(chu)理器和高(gao)密(mi)度SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝(yi)，米(mi)遠科技(ji)優化(hua)和創(chuang)新了測量技(ji)術，很(hen)好地消除了(le)熱電對(dui)被測元件(jian)接觸(chu)的影響(xiang)而引起(qi)的潛(qian)在(zai)誤(wu)差(cha).