關於回(hui)路電(dian)阻測試(shi)儀(yi)的(de)正確(que)使用方(fang)法

    回(hui)路電(dian)阻測試(shi)儀(yi)運用脈寬(kuan)調(tiao)制式高頻(pin)開(kai)關電(dian)源供給大(da)於(yu)100A的(de)測試(shi)電(dian)流，按下(xia)測(ce)量(liang)鍵(jian)時，高頻(pin)開(kai)關電(dian)源輸出(chu)大(da)於(yu)100A以上(shang)的(de)測試(shi)電(dian)流，與(yu)此(ci)同時(shi)采樣(yang)電(dian)路開(kai)始(shi)采樣(yang)，取得(de)的(de)信號經(jing)放(fang)大(da)器放(fang)大(da)，由A/D轉換(huan)器將模(mo)擬(ni)信(xin)號轉換(huan)成(cheng)數字信號後(hou)，再經(jing)微(wei)措(cuo)置器對(dui)數據(ju)進行濾波(bo)、運算、措(cuo)置，然(ran)後(hou)在回(hui)路電(dian)阻測試(shi)儀(yi)的(de)顯(xian)示(shi)器顯(xian)示(shi)出(chu)此(ci)次(ci)測(ce)量(liang)的(de)電(dian)流和(he)電(dian)阻值(zhi)。顯(xian)示(shi)10秒鐘後(hou)，系統自(zi)動復位。當被測(ce)的(de)回路電(dian)阻值(zhi)小(xiao)於(yu)400μΩ時(shi)，測量(liang)的(de)小分辯(bian)率(lv)為0.1μΩ，當被測(ce)的(de)回路電(dian)阻值(zhi)大(da)於(yu)400μΩ時，測(ce)量(liang)的(de)小分辯(bian)率(lv)為1μΩ。

　　連接(jie)電(dian)線，插(cha)入交流電(dian)源線，打(da)開(kai)時鐘以設置時鐘，按“ OK"檢查(zha)時鐘，然(ran)後(hou)按“ OK"進行測試(shi)。此時(shi)，LCD顯(xian)示(shi)屏將顯(xian)示(shi)“ Charging"(正在充(chong)電(dian))，表(biao)明變壓(ya)器已磁化。充(chong)電(dian)後(hou)，將顯(xian)示(shi)“ Test Start"(測試(shi)開始(shi))，左側(ce)顯(xian)示(shi)測得(de)的(de)直(zhi)流電(dian)阻數據(ju)，右側(ce)顯(xian)示(shi)測試(shi)電(dian)流。由於電(dian)感(gan)器磁化是壹(yi)個緩慢的(de)過程(cheng)(特(te)別(bie)是對(dui)於大(da)型(xing)變壓(ya)器，建(jian)議(yi)在10A下(xia)使(shi)用直(zhi)流電(dian)阻小於(yu)1毫(hao)歐的(de)變壓(ya)器)，請(qing)等待(dai)直(zhi)到(dao)顯(xian)示(shi)的(de)電(dian)阻值(zhi)相對(dui)不變。

然(ran)後(hou)按“確(que)定(ding)"鍵(jian)，等待(dai)直(zhi)到(dao)顯(xian)示(shi)“放(fang)電(dian)"，然(ran)後(hou)松開(kai)“確(que)定(ding)"鍵(jian)。放(fang)電(dian)完(wan)成(cheng)後(hou)，您進入打(da)印(yin)界(jie)面，可以(yi)按照提示(shi)進行打印(yin)或重新測試(shi)。在測(ce)量(liang)大(da)電(dian)感(gan)樣本(ben)(例如(ru)電(dian)力變壓(ya)器)時(shi)，使(shi)線圈(quan)短路(除非(fei)使(shi)用環路電(dian)阻測試(shi)儀(yi)進行測量(liang))，以避免電(dian)磁幹擾(rao)。測(ce)試(shi)完(wan)成(cheng)後(hou)，請(qing)關閉電(dian)源開關，並(bing)在放(fang)電(dian)後(hou)切換(huan)測(ce)試(shi)夾(jia)以運(yun)行其他(ta)測試(shi)。