回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)測(ce)試(shi)方法主(zhu)要有(you)三(san)種

    回(hui)路(lu)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)，也(ye)稱為變壓(ya)器(qi)回路(lu)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)，主(zhu)要用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)高壓斷路(lu)器的(de)動(dong)態和(he)靜態觸點(dian)的(de)接(jie)觸電阻(zu)。斷路(lu)器(qi)的(de)電路(lu)電阻(zu)主(zhu)要取(qu)決(jue)於(yu)動(dong)態和(he)靜態觸點(dian)的(de)接(jie)觸電阻(zu)。接(jie)觸電阻(zu)的(de)存在會(hui)增(zeng)加(jia)。通電過程中(zhong)導體的(de)損耗會(hui)增(zeng)加(jia)接(jie)觸點(dian)的(de)溫度(du)。它(ta)的(de)值(zhi)直(zhi)接(jie)影(ying)響(xiang)正(zheng)常工作期間的(de)載流(liu)能(neng)力(li)，並(bing)在壹定程度(du)上影(ying)響(xiang)短(duan)路(lu)電流(liu)的(de)切斷(duan)能力(li)。它(ta)也(ye)是(shi)反映安(an)裝和(he)維(wei)護(hu)工(gong)作質量的(de)重要數(shu)據(ju)。目前(qian)，回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)主(zhu)要有(you)三(san)種測(ce)試(shi)方法，具(ju)體操作如下(xia)：
 

　　1.橋(qiao)接(jie)法：使(shi)用雙(shuang)臂(bi)電橋(qiao)測(ce)量斷路器(qi)導(dao)電電路(lu)的(de)電阻(zu)時，由(you)於(yu)流(liu)經測(ce)量電路(lu)的(de)電流(liu)較弱(ruo)，難以(yi)消(xiao)除具(ju)有(you)大(da)電阻(zu)的(de)氧化(hua)膜(mo)，並且(qie)難以(yi)測(ce)量價值(zhi)太(tai)大(da)。電流(liu)小(xiao)，並且(qie)難以(yi)在(zai)接(jie)觸的(de)接(jie)觸點(dian)形(xing)成收縮(suo)，即，不能測(ce)量收縮(suo)電阻(zu)。

　　2.壓(ya)降(jiang)法：在(zai)被(bei)測(ce)電路(lu)上施加(jia)直(zhi)流(liu)電時(shi)，在(zai)電路(lu)的(de)接(jie)觸電阻(zu)上會(hui)產(chan)生(sheng)電壓(ya)降(jiang)，測(ce)量通過電路(lu)的(de)電流(liu)值(zhi)和(he)電壓(ya)值(zhi)，並(bing)測(ce)出(chu)接(jie)觸電阻(zu)將被(bei)計(ji)算。測(ce)試(shi)過程繁(fan)瑣，測(ce)量結果是(shi)手動(dong)計(ji)算的(de)，存在壹(yi)定的(de)誤差(cha)。

　　3.微(wei)歐(ou)表(biao)法(環(huan)路(lu)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi))：原(yuan)理(li)是(shi)電壓(ya)降(jiang)原理(li)，但測(ce)量和(he)計(ji)算均由(you)單(dan)片機處(chu)理(li)，大(da)大(da)減少(shao)了(le)工(gong)作量。