回(hui)路電(dian)阻測試儀如何(he)提高測試準(zhun)確性和(he)生(sheng)產(chan)效(xiao)率

回(hui)路電(dian)阻測試儀如何(he)提高測試準(zhun)確性和(he)生(sheng)產(chan)效(xiao)率

    目前(qian)市場(chang)上(shang)大(da)部(bu)分回路電(dian)阻測試儀原(yuan)理是采用(yong)典(dian)型的四(si)線制測量(liang)法(fa)，由(you)高頻(pin)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)提供大於100A的測試電流，按(an)下(xia)測量(liang)鍵(jian)時，高頻(pin)開(kai)關(guan)電(dian)源(yuan)輸(shu)出大(da)於100A以上(shang)的測試電流，同(tong)時采(cai)樣電(dian)路開(kai)始(shi)采(cai)樣，取得的信(xin)號(hao)經(jing)放(fang)大(da)器放(fang)大(da)，由(you)A/D轉換(huan)器將(jiang)模(mo)擬(ni)信號(hao)轉換成(cheng)數字(zi)信(xin)號(hao)後，再經(jing)微(wei)處(chu)理器對數據(ju)進行(xing)濾波、運算、處理，後(hou)送顯(xian)示器顯(xian)示出此次(ci)測量(liang)的電(dian)流和(he)電(dian)阻值。並(bing)可以在當(dang)電(dian)流測試回路出現(xian)斷線(xian)或接觸(chu)不(bu)良(liang)時，儀(yi)器會根(gen)據(ju)電流分流器上(shang)的電(dian)壓判(pan)斷出電(dian)流回(hui)路接觸(chu)不(bu)良(liang)或開(kai)路。直(zhi)流電(dian)阻快速測試儀采用全新(xin)電源(yuan)技(ji)術，具有測量(liang)迅速、體積小(xiao)巧、使用方便、測量(liang)精(jing)度(du)高等(deng)特(te)點，是測量(liang)變(bian)壓(ya)器繞組以及(ji)大功率電(dian)感(gan)設備(bei)直(zhi)流電(dian)阻的理想設(she)備。

　　1、現(xian)有(you)測試方法存在的問(wen)題(ti)

　　按(an)照(zhao)常(chang)規設計(ji)原(yuan)理設(she)計(ji)的回(hui)路電(dian)阻測試儀在現(xian)場(chang)測試時發(fa)現(xian)，都(dou)普遍存在壹個(ge)問(wen)題(ti)：當(dang)測試儀電壓接線(xian)回路出現(xian)接觸(chu)不(bu)良(liang)或開(kai)路時，測試儀還會顯(xian)示壹個(ge)數值，此時會出現(xian)以下(xia)幾(ji)種情(qing)況(kuang)：

　　（1）電(dian)壓回(hui)路開(kai)路，測試現(xian)場(chang)沒有(you)強(qiang)電(dian)場幹擾，這種情(qing)況(kuang)下(xia)，由(you)於放(fang)大(da)器輸入的差(cha)模電(dian)壓(ya)基(ji)本(ben)為(wei)0，故儀(yi)器顯(xian)示的測試數值接近為(wei)0，如果測試人員有足(zu)夠(gou)的現(xian)場(chang)測試經(jing)驗，可以判(pan)斷出是儀器電壓回(hui)路測試線異常(chang)，將(jiang)儀(yi)器電壓回(hui)路測試線異常(chang)排(pai)除(chu)後(hou)，可以得出終(zhong)正(zheng)確測試結果；如果測試人員沒有(you)足(zu)夠(gou)的現(xian)場(chang)測試經(jing)驗，有可能(neng)會誤(wu)判(pan)測試儀出現(xian)問(wen)題(ti)，中斷測試，更(geng)換或返修儀(yi)器，延誤停(ting)電(dian)時間，給(gei)測試工作帶(dai)來不(bu)必(bi)要(yao)的麻(ma)煩。

　　（2）電(dian)壓回(hui)路接觸(chu)不(bu)良(liang)，大多(duo)數情(qing)況(kuang)下(xia)斷路器的接線(xian)端子(zi)在長期運行後端子(zi)排(pai)外(wai)表(biao)面會產(chan)生(sheng)氧化(hua)膜或油膜，當回(hui)路電(dian)阻儀的電(dian)壓測試鉗夾接到(dao)這樣的端(duan)子排(pai)上(shang)時就(jiu)可(ke)能(neng)產(chan)生(sheng)接觸(chu)不(bu)良(liang)，既(ji)電(dian)壓測試線鉗夾本身(shen)也(ye)要(yao)產(chan)生(sheng)壹定的接觸(chu)電(dian)阻，該接觸(chu)電(dian)阻值達到與電(dian)壓(ya)采樣回(hui)路的內(nei)阻值相(xiang)當時，將(jiang)對測試結果產(chan)生(sheng)嚴重(zhong)影(ying)響(xiang)。

　　（3）電(dian)壓回(hui)路開(kai)路或接觸(chu)不(bu)良(liang)（開(kai)路時可(ke)視接觸(chu)電(dian)阻R1無(wu)窮(qiong)大(da)），測試現(xian)場(chang)有(you)較(jiao)強的電(dian)磁幹擾，如母(mu)線(xian)帶(dai)電(dian)，此時帶(dai)電(dian)母(mu)線(xian)通過(guo)以空(kong)氣(qi)為(wei)介質的電(dian)容(rong)，幹擾測試儀的兩(liang)條(tiao)電(dian)壓(ya)測試線，由(you)於幹擾的作(zuo)用使回路測試儀電壓采集線(xian)兩(liang)端(duan)出現(xian)差(cha)模電(dian)壓(ya)。

　　如果幹擾較大，會使回路電(dian)阻測試儀顯(xian)示出比被(bei)試(shi)品(pin)電(dian)阻值大(da)的多(duo)的數值，此時如果測試人員有足(zu)夠(gou)的現(xian)場(chang)測試經(jing)驗也(ye)許能(neng)夠(gou)判(pan)斷出測試結果的異(yi)常(chang)，能(neng)夠(gou)引(yin)起(qi)註意並(bing)終(zhong)得到(dao)正確測試結果。但如果測試人員沒有(you)足(zu)夠(gou)的經(jing)驗可能(neng)會誤(wu)判(pan)開(kai)關(guan)回(hui)路電(dian)阻值超標，可能(neng)會采(cai)用(yong)停電(dian)檢修的方(fang)法處(chu)理缺陷，給(gei)電(dian)力生(sheng)產(chan)造(zao)成不(bu)必(bi)要(yao)的損(sun)失(shi)。

　　如果幹擾的強(qiang)度不(bu)是很大(da)，儀器顯(xian)示值正(zheng)好在斷路器的合(he)格阻值範(fan)圍之(zhi)內(nei)，該情形(xing)與情(qing)況(kuang)“（2）電壓(ya)回路接觸(chu)不(bu)良(liang)"產(chan)生(sheng)的結果相(xiang)同，同(tong)樣會造(zao)成(cheng)誤判(pan)。

　　2、利用改(gai)進型(xing)四線制測量(liang)法(fa)解(jie)決(jue)以上(shang)問(wen)題(ti)。

　　回(hui)路電(dian)阻測試儀根據對以上(shang)問(wen)題(ti)的分析(xi)，提出改(gai)進四(si)線制測量(liang)法(fa)，采(cai)用(yong)新(xin)電源(yuan)技(ji)術，能(neng)長時間連續輸出大(da)電(dian)流，克(ke)服了(le)脈(mai)沖式(shi)電源(yuan)瞬間電流的弊(bi)端(duan)，可(ke)以有(you)效(xiao)的擊(ji)穿(chuan)開(kai)關(guan)觸(chu)頭(tou)氧化(hua)膜，解決(jue)目前(qian)傳統回(hui)路電(dian)阻測試儀存在的問(wen)題(ti)。

　　通過(guo)大(da)電流恒(heng)流源(yuan)給(gei)試(shi)品(pin)加(jia)電測試，采集電(dian)壓電流的數值，計(ji)算試(shi)品(pin)的電(dian)阻值。此時測出的數值壹定是試品(pin)的真(zhen)實(shi)的電(dian)阻值，杜(du)絕了(le)虛(xu)假(jia)數據(ju)的產(chan)生(sheng)。即使現(xian)場(chang)有(you)較(jiao)強電場(chang)幹擾，由(you)於電壓回(hui)路中的電(dian)阻很小(xiao)，感應(ying)到(dao)電(dian)壓測試端的電(dian)壓為(wei)共(gong)模電(dian)壓(ya)，本(ben)產(chan)品(pin)通過(guo)電(dian)容(rong)接地(di)的方(fang)式將(jiang)這(zhe)個(ge)交流共(gong)模幹擾降到很(hen)低(di)，不(bu)會對測試精度產(chan)生(sheng)影(ying)響(xiang)。

　　以上(shang)表(biao)明(ming)自動判(pan)斷和(he)提示功能(neng)大大(da)提高了(le)測試準(zhun)確性和(he)提高了(le)生(sheng)產(chan)效(xiao)率，是現(xian)場(chang)試(shi)驗人員快速解決(jue)問(wen)題(ti)的可(ke)靠依靠(kao)。