局部放(fang)電試驗(yan)幹(gan)擾(rao)的(de)排(pai)除及註(zhu)意(yi)事項

局部放(fang)電試驗(yan)幹(gan)擾(rao)的(de)排(pai)除及註(zhu)意(yi)事項

局部放(fang)電測量幹(gan)擾(rao)的(de)排(pai)除

操作(zuo)者(zhe)可采(cai)用開(kai)時間窗(chuang)的(de)辦(ban)法(fa)排(pai)除幹(gan)擾(rao)。

操作(zuo)者(zhe)可變(bian)換濾(lv)波(bo)器(qi)檔位，改變(bian)測量頻(pin)帶將(jiang)壹(yi)些幹(gan)擾(rao)排(pai)除，此(ci)時應註(zhu)意(yi)，此(ci)測量頻(pin)帶是(shi)否(fou)已(yi)校準，以(yi)免帶來測量誤(wu)差(cha)。

操作(zuo)者(zhe)應(ying)充分發(fa)揮(hui)局部放(fang)電圖(tu)形分(fen)析的功(gong)能。利用其(qi)反映的信(xin)息量大(da)的(de)特(te)點，進(jin)行(xing)二維(wei)、三(san)維(wei)圖形觀察(cha)分析局部放(fang)電脈(mai)沖以(yi)及(ji)於擾脈(mai)沖的(de)各自特(te)點，找(zhao)出規律(lv)，排(pai)除幹(gan)擾(rao)。

局部放(fang)電測試儀器(qi)使用註(zhu)意(yi)事項：

在進(jin)行(xing)任何(he)連接(jie)操作(zuo)前(qian)，首先將(jiang)儀器(qi)的接(jie)地(di)端(duan)接(jie)地(di)。

在每次(ci)試驗(yan)前(qian)，儀器(qi)連接(jie)好後，儀器(qi)應有(you)不小於(yu)5分(fen)鐘的(de)預(yu)熱(re)時間，儀器(qi)應良好保(bao)護，防(fang)止腐(fu)蝕，避(bi)免陽光直射(she)，測試時遠離(li)強磁(ci)場源。儀器(qi)應避免強烈(lie)震(zhen)動(dong)，運輸時應有(you)防(fang)震(zhen)措(cuo)施(shi)。

鍵(jian)盤(pan)接(jie)口(kou)為(wei)RJ-45接(jie)口(kou)，類(lei)似於(yu)壹(yi)般(ban)的網線(xian)接(jie)口(kou)，可直(zhi)接(jie)插入，需按(an)住(zhu)塑(su)料(liao)彈片(pian)拔(ba)出。

零(ling)標輸入接(jie)口(kou)：為(wei)儀器(qi)提供外(wai)零(ling)標信(xin)號(hao)，方(fang)法(fa)為：將(jiang)試驗(yan)電(dian)源電(dian)壓(ya)經分(fen)壓器(qi)降至(zhi) 10V~240V，此(ci)電(dian)壓(ya)輸(shu)入至(zhi)零(ling)標輸入端，註(zhu)意(yi)：零(ling)標單元(yuan)的(de)輸(shu)入電壓(ya)不得超(chao)出10V~240V。在試驗(yan)電(dian)源和(he)儀器(qi)電源同相或(huo)試驗(yan)電(dian)源和(he)工(gong)頻嚴(yan)格同步(bu)時，可使(shi)用儀器(qi)內零(ling)標，註(zhu)意(yi)校準其相位。

在有(you)條件的(de)情(qing)況下(xia),試品(pin)放在屏(ping)蔽(bi)室(shi)中(zhong),加(jia)壓(ya)設備和(he)儀器(qi)放在屏(ping)蔽(bi)室(shi)外(wai)可有(you)效的防(fang)止幹(gan)擾(rao)。

應(ying)將(jiang)儀器(qi)遠離(li)試品(pin)不少(shao)於7米(mi)，當(dang)遇到(dao)基(ji)線(xian)幹(gan)擾(rao)比較大(da)時，可在儀器(qi)與(yu)試品(pin)間加(jia)金(jin)屬網狀(zhuang)防(fang)護欄。

嚴(yan)禁(jin)帶電(dian)插撥(bo)接(jie)口(kou)，在任(ren)何(he)插撥(bo)接(jie)口(kou)時，嚴禁(jin)儀器(qi)處於開(kai)機狀態，應關(guan)掉開(kai)關(guan)再(zai)進(jin)行(xing)插撥(bo)接(jie)口(kou)的(de)操作(zuo)。

檢(jian)測阻(zu)抗(kang)的接(jie)地(di)端(duan)應良好接(jie)地(di)，以(yi)免引(yin)入高壓(ya)。為了(le)避(bi)免幹(gan)擾(rao)的(de)影(ying)響(xiang)，檢(jian)測阻(zu)抗(kang)與(yu)試品(pin)的連(lian)線(xian)應(ying)盡量短(duan)。檢測阻(zu)抗(kang)則應根據(ju)試品(pin)電容(rong)量選(xuan)擇(ze)，具體方(fang)法(fa)參(can)考(kao)使(shi)用說(shuo)明(ming)書(shu)。

校準方(fang)波(bo)在校準後，壹定要摘(zhai)下(xia)連線(xian)，以(yi)免在測試時被高壓(ya)擊(ji)穿，而且在撤下(xia)後關(guan)上(shang)電(dian)源開(kai)關(guan)。校準方(fang)波(bo)是充電電(dian)池供電，在無電(dian)時，指示(shi)紅燈(deng)熄(xi)滅(mie)，方(fang)波(bo)會不(bu)準確(que)，此(ci)時應對(dui)方(fang)波(bo)校準器(qi)進行充電。

註(zhu)意(yi)：每次(ci)充電，應(ying)在方(fang)波(bo)校準器(qi)無電(dian)時進行(xing)(即打開(kai)時紅燈(deng)指示(shi)熄(xi)滅(mie))，有(you)電時不要充電，充電時間不(bu)要過(guo)長壹般(ban)為10~12小時且綠色(se)指(zhi)示(shi)燈(deng)熄滅(mie)。有(you)時為了(le)保(bao)證(zheng)充電充滿，可有(you)意打開(kai)方(fang)波(bo)進行(xing)放(fang)電(dian)，然後再(zai)進(jin)行(xing)充電。