高(gao)壓絕緣子(zi)絕緣電(dian)阻測(ce)量方法(fa)及標準要求(qiu)

高(gao)壓絕緣子(zi)絕緣電(dian)阻測(ce)量方法(fa)及標準要求(qiu)

對(dui)絕緣子(zi)絕緣電(dian)阻測(ce)量，總(zong)的來(lai)說受溫(wen)度、濕(shi)度、絕緣子(zi)表(biao)面清(qing)潔(jie)程度的(de)影響很大(da)。對表(biao)面清(qing)潔(jie)幹(gan)凈的良(liang)好(hao)絕緣子(zi)其(qi)絕緣電(dian)阻很高(gao)。瓷質(zhi)有(you)裂(lie)紋(wen)時絕緣電(dian)阻壹(yi)般也沒有顯(xian)著下(xia)降(jiang)，只(zhi)有(you)當(dang)裂紋處(chu)有(you)灰塵及潮氣侵入後(hou)絕緣電(dian)阻才顯(xian)著降(jiang)低(di):其(qi)數值(zhi)僅有(you)數百甚至(zhi)數十(shi)兆歐以(yi)下(xia)，用(yong)兆(zhao)歐表(biao)可(ke)以(yi)明顯(xian)地(di)檢出。

試(shi)驗步驟

1.試(shi)驗準備(bei)：該(gai)項試(shi)驗應在(zai)被試(shi)物安(an)裝就位(wei)後(hou)進(jin)行(xing)。擦(ca)除(chu)絕緣表(biao)面汙垢，並(bing)對地(di)充(chong)分放(fang)電。

2.選(xuan)擇儀器(qi)：采用(yong)數字(zi)兆歐表(biao)

兆歐表(biao)的(de)電壓等級(ji)按(an)下(xia)列(lie)規(gui)定執行(xing)：

500V以(yi)下(xia)至(zhi)100V的(de)電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)或(huo)二(er)次(ci)回路(lu)，采用(yong)500V擋(dang)；

10000V以(yi)下(xia)至(zhi)500V的(de)電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)或(huo)回(hui)路(lu)，采(cai)用(yong)2500V擋(dang)；

10000V以(yi)上的(de)電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)或(huo)回(hui)路(lu)，采(cai)用(yong)5000V擋(dang)。

3.儀器(qi)測(ce)試(shi)：試(shi)驗前(qian)必須對測(ce)試(shi)儀器(qi)進(jin)行(xing)檢查(zha)，確(que)保測(ce)試(shi)儀器(qi)狀態(tai)良(liang)好(hao)。首(shou)先(xian)檢查(zha)外(wai)觀(guan)，應完(wan)好無損，然(ran)後(hou)進(jin)行(xing)設(she)備(bei)檢查(zha)，將兆(zhao)歐表(biao)放(fang)平(ping)穩，打開(kai)電(dian)源(yuan)，按(an)“測(ce)試(shi)"鍵，此(ci)時兆歐表(biao)應(ying)指示為“∞";用(yong)導(dao)線短接“工"端和(he)“E"端(duan)，按(an)“測(ce)試(shi)"鍵此(ci)時應指(zhi)示(shi)為“0"，檢查(zha)無誤(wu)後(hou)方可(ke)使用(yong)。

4.測(ce)試(shi)：將兆(zhao)歐表(biao)放(fang)在絕緣墊(dian)上(shang)，操(cao)作人(ren)也站在絕緣墊(dian)工(gong)作負(fu)責(ze)人(ren)負責(ze)安(an)全(quan)防護。按(an)“測(ce)試(shi)"鍵，待(dai)數值(zhi)穩定上，時，記(ji)錄(lu)絕緣電(dian)阻的數值(zhi)(同時記(ji)錄(lu)試(shi)驗時環(huan)境溫(wen)度、濕(shi)度)。如果發(fa)現絕緣電(dian)阻偏(pian)低(di)有可能(neng)是表(biao)面潮濕(shi)，此時應加(jia)屏蔽線。在絕緣子(zi)表(biao)面用裸銅(tong)線緊緊圍(wei)繞(rao)壹(yi)圈(quan)使之形成(cheng)個(ge)封閉的金屬圈(quan)把金屬圈(quan)的另壹(yi)端和(he)兆(zhao)歐表(biao)相(xiang)連。

測(ce)試(shi)時應作詳(xiang)細(xi)記(ji)錄(lu)。記(ji)錄(lu)內(nei)容(rong)包(bao)括：溫(wen)度、濕(shi)度、儀器(qi)型(xing)號(hao)、編號(hao)被試(shi)設(she)備(bei)銘(ming)牌(pai)、測(ce)試(shi)數據(ju)。記(ji)錄(lu)使用(yong)墨水筆，字(zi)跡(ji)清(qing)晰。記(ji)錄(lu)本采(cai)用(yong)專門(men)的(de)原(yuan)始記(ji)錄(lu)本。記(ji)錄(lu)測(ce)試(shi)數據(ju)時應復(fu)述，操(cao)作人(ren)確(que)認(ren)後(hou)方可(ke)記(ji)錄(lu)。

5.測(ce)試(shi)完(wan)畢：工作負(fu)責(ze)人(ren)應對(dui)原(yuan)始記(ji)錄(lu)進(jin)行(xing)審核，內(nei)容(rong)包(bao)括:記(ji)錄(lu)內(nei)容(rong)是否(fou)漏項(xiang)、試(shi)數據(ju)有(you)效數字(zi)、單位(wei)是(shi)否(fou)正確(que)記(ji)錄(lu)人(ren)、試(shi)驗人(ren)簽(qian)字(zi)是否(fou)完(wan)整,檢查(zha)無誤(wu)後(hou)，審(shen)核人(ren)應簽(qian)字(zi)完(wan)畢後(hou)，應(ying)及時填寫(xie)試(shi)驗報(bao)告。試(shi)驗報(bao)告應(ying)用計(ji)算機(ji)打印(yin)，應妥(tuo)善(shan)保管(guan)磁(ci)盤(pan)。試(shi)驗報(bao)告應(ying)由(you)技(ji)術(shu)負(fu)責(ze)人(ren)簽(qian)發(fa)。並(bing)保存(cun)試(shi)驗報(bao)告發(fa)放記(ji)錄(lu)。

試(shi)驗標準

針(zhen)式(shi)支(zhi)柱絕緣子(zi)的(de)每壹(yi)個(ge)元件和(he)每(mei)片(pian)懸(xuan)式(shi)絕緣子(zi)的(de)絕緣電(dian)阻不應(ying)低於(yu)300兆歐。