直(zhi)流(liu)電阻(zu)快速(su)測試儀通用技術要求(qiu)

直(zhi)流(liu)電阻(zu)快速(su)測試儀通用技術要求(qiu)

直流(liu)電阻(zu)快速(su)測試儀技術要求(qiu)：

要求設備(bei)的測試範圍為1uΩ-20K2、測試準確(que)度為士(shi)0.2%、最(zui)高分辨率0.1uΩ。

要求設備(bei)具(ju)有支(zhi)持中文(wen)顯(xian)示(shi)功(gong)能(neng)的液晶(jing)顯(xian)示(shi)器(qi)

要求設備(bei)可顯(xian)示(shi)測(ce)試電阻(zu)值(zhi)、測試電流(liu)、測試時間、環(huan)境溫度、操(cao)作提示(shi)、故障(zhang)狀態(tai)等(deng)內容

要求設備(bei)可自(zi)動(dong)判斷(duan)測試線虛接(jie)、斷(duan)線等(deng)故障(zhang)。保(bao)護(hu)功能(neng)完善(shan)，自能(neng)可靠(kao)保(bao)護反電勢對(dui)儀器的沖擊(ji)，具(ju)有自(zi)動(dong)放電指示(shi)功(gong)能(neng)。

要求設備(bei)可在(zai)測量(liang)狀態(tai)直接(jie)轉(zhuan)換分(fen)接(jie)開關(guan)，儀器應能(neng)自動(dong)提示(shi)，並(bing)快速(su)顯(xian)示(shi)新的被測(ce)電阻(zu)值(zhi)。

要求設備(bei)采(cai)用高速(su)16位 AD 轉(zhuan)換器(qi)。

要求設備(bei)具(ju)有220V交(jiao)流(liu)電源(yuan)供電和(he)內置(zhi)電池(chi)供(gong)電兩種供電方式。電池(chi)容量(liang)應能(neng)滿足(zu)長時間(不(bu)小於(yu)6小時)測(ce)試使用的要求(qiu)。

要求設備(bei)具(ju)有打(da)印(yin)功(gong)能(neng)，可快(kuai)速(su)打(da)印(yin)測(ce)量(liang)結(jie)果

測試目(mu)的

測量(liang)變壓器繞組的直流(liu)電阻(zu)是壹個很(hen)重要(yao)的試驗項(xiang)目(mu)，在(zai)《電力設(she)備(bei)試驗規(gui)程》中，其次(ci)序排在(zai)變壓器試驗項(xiang)目(mu)的第(di)二(er)位，《規程(cheng)》規定在(zai)變壓器交(jiao)接(jie)、大修(xiu)、小(xiao)修(xiu)、變更分接(jie)頭(tou)位置、故障(zhang)檢(jian)查(zha)及(ji)預試等(deng)，必須(xu)測(ce)量(liang)變壓器繞組的直流(liu)電阻(zu)，其目(mu)的是：

檢(jian)查(zha)繞組內(nei)部(bu)導(dao)線和(he)引(yin)線的焊接(jie)質量(liang);

檢(jian)查(zha)分(fen)接(jie)開關(guan)各個位(wei)置(zhi)接(jie)觸(chu)是(shi)否(fou)良好(hao):

檢(jian)查(zha)繞組或(huo)引(yin)出(chu)線有無(wu)折斷(duan)處:

檢(jian)查(zha)並(bing)聯支(zhi)路的正(zheng)確(que)性(xing)，是(shi)否(fou)存(cun)在(zai)由幾(ji)條(tiao)並聯導(dao)線繞成的繞組發生壹(yi)處或(huo)幾(ji)處(chu)斷(duan)線的情況(kuang);

檢(jian)查(zha)層(ceng)、匝間有(you)無(wu)短路(lu)的現象(xiang)。

試驗註要事項(xiang)

試驗時直(zhi)流(liu)電阻(zu)快速(su)測試儀必須(xu)可靠(kao)接(jie)地。

儀器開(kai)始測量(liang)時請(qing)勿(wu)觸(chu)動(dong)測試夾具(ju)，以免(mian)反(fan)擊(ji)電動(dong)勢傷(shang)人。

測試結(jie)束，等(deng)待充(chong)分放電後方(fang)可拆卸(xie)測試夾具(ju)，拆卸(xie)時不(bu)要(yao)觸(chu)任(ren)何(he)金(jin)屬(shu)部(bu)位(wei)。

測量(liang)初始，直流(liu)電阻(zu)快速(su)測試儀顯(xian)示(shi)數(shu)值(zhi)跳(tiao)動(dong)或短(duan)時顯(xian)示(shi)“超(chao)出量(liang)程"時，是(shi)由(you)於(yu)對被測(ce)設備充電不充(chong)分(fen)造成，等(deng)待充(chong)電完成(cheng)後(hou)讀取(qu)穩(wen)定顯(xian)示(shi)數(shu)值(zhi)。