HPS2735鐵(tie)芯(xin)伏(fu)安特(te)性測試儀適用於(yu)各種(zhong)軟磁鐵(tie)芯(xin)閉(bi)路(lu)伏(fu)安特(te)性的(de)測量，模(mo)擬被測鐵(tie)芯(xin)或(huo)磁(ci)芯在工作(zuo)頻率(lv)與(yu)工作(zuo)電(dian)流(liu)時繞壹圈(quan)所產生的(de)感應(ying)電(dian)壓(ya)。

HPS2540精密(mi)壓(ya)敏電阻測試儀采(cai)用高頻高壓(ya)技(ji)術(shu)全新推(tui)出(chu)的(de)壹款(kuan)儀器(qi)，基於(yu)高性能微處理(li)器(qi)和高密度SMD貼(tie)裝(zhuang)工藝，產生高精度恒(heng)流(liu)、恒(heng)壓(ya)源，可以(yi)快(kuai)速(su)準確地測量壓(ya)敏電阻的(de)壓(ya)敏電壓(ya)UN、泄露(lu)電(dian)流(liu)IL、壓(ya)比Kr以(yi)及非線(xian)性(xing)系(xi)數α等(deng)各項指(zhi)標(biao)。

HPS2548精密(mi)環(huan)形壓(ya)敏電阻測試儀采(cai)用高性能ARM微處理(li)器(qi)和高密度SMD貼(tie)裝(zhuang)工藝，米遠(yuan)科技(ji)優(you)化和(he)創(chuang)新(xin)了(le)測量技(ji)術(shu)，很(hen)好(hao)地消(xiao)除了(le)熱(re)電(dian)對被測元(yuan)件(jian)接觸的(de)影響而(er)引起(qi)的(de)潛(qian)在誤(wu)差(cha)。

HPS2530PTC/NTC熱敏電阻測試儀采(cai)用高性能ARM微處理(li)器(qi)和高密度SMD貼(tie)裝(zhuang)工藝，米遠(yuan)科技(ji)優(you)化和(he)創(chuang)新(xin)了(le)測量技(ji)術(shu)，很(hen)好(hao)地消(xiao)除了(le)熱(re)電(dian)對被測元(yuan)件(jian)接觸的(de)影響而(er)引起(qi)的(de)潛(qian)在誤(wu)差(cha)。

HPS2535精密(mi)熱(re)敏電阻測試儀采(cai)用高性能ARM微處理(li)器(qi)和高密度SMD貼(tie)裝(zhuang)工藝，米遠(yuan)科技(ji)優(you)化和(he)創(chuang)新(xin)了(le)測量技(ji)術(shu)，很(hen)好(hao)地消(xiao)除了(le)熱(re)電(dian)對被測元(yuan)件(jian)接觸的(de)影響而(er)引起(qi)的(de)潛(qian)在誤(wu)差(cha)。

HPS2510-256精密(mi)多(duo)路(lu)電(dian)阻(zu)測試儀采(cai)用高性能ARM微處理(li)器(qi)和高密度SMD貼(tie)裝(zhuang)工藝，米遠(yuan)科技(ji)優(you)化和(he)創(chuang)新(xin)了(le)測量技(ji)術(shu)，很(hen)好(hao)地消(xiao)除了(le)熱(re)電(dian)對被測元(yuan)件(jian)接觸的(de)影響而(er)引起(qi)的(de)潛(qian)在誤(wu)差(cha)。