ZD3C回路電阻測(ce)試(shi)儀主要用於測(ce)量斷(duan)路(lu)器主觸(chu)頭(tou)、隔(ge)離(li)開關(guan)觸(chu)頭(tou)、母線(xian)連(lian)接部(bu)分電阻值(zhi)。

ZD3C回路電阻測(ce)試(shi)儀

• ZD3C回路電阻測(ce)試(shi)儀主要用於測(ce)量斷(duan)路(lu)器主觸(chu)頭(tou)、隔(ge)離(li)開關(guan)觸(chu)頭(tou)、母線(xian)連(lian)接部(bu)分電阻值(zhi)。

• 產品別(bie)稱(cheng)

  接觸(chu)電(dian)阻測(ce)試(shi)儀、開關(guan)回路電阻測(ce)試(shi)儀、接觸(chu)回路電阻測(ce)試(shi)儀、接觸(chu)(回路)電阻測(ce)試(shi)儀、微歐(ou)計(ji)

1、輸出電(dian)流(liu)時間(jian)100A/200A時在(zai)1s～60s間(jian)任(ren)意(yi)設定(ding),  300A時，1s~5s間(jian)任(ren)意(yi)設定(ding)。

2、能(neng)夠輸入設(she)備編號，以(yi)便(bian)試(shi)驗後(hou)查看(kan)所(suo)存(cun)儲(chu)的(de)數據(ju)。

3、測量(liang)時顯示測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)、電(dian)流輸出時間(jian)、電(dian)阻值(zhi)。

4、能(neng)儲(chu)存(cun)和長(chang)期(qi)保存100組(zu)測試(shi)數據(ju)。

5、內置日(ri)歷(li)時鐘(zhong)，可(ke)記(ji)錄(lu)測試(shi)日(ri)期(qi)。

6、存(cun)儲(chu)的(de)數據(ju)包(bao)含設(she)備編號、試(shi)驗時間(jian)、電(dian)阻值(zhi)。

7、具有U盤接口，可(ke)將(jiang)數據(ju)轉存(cun)至(zhi)U盤。

直(zhi)流(liu)電流(liu)輸出：100A、200A、300A可(ke)選(xuan)擇(ze)。

2、輸出功率：100A時：1000VA

                       200A時：2000VA

                       300A時：3000VA

3、測(ce)量(liang)範圍：100A時0.1μΩ～20mΩ

                       200A時0.1μΩ～10mΩ

                       300A時0.1μΩ～6mΩ

4、分辨力：0.1～9.999μΩ，分辨力：0.001μΩ

                    10μΩ～99.99μΩ, 分辨力：0.01μΩ

                    100μΩ～999.9μΩ, 分辨力:0.1μΩ

                    1mΩ～9.999mΩ,分辨力:1μΩ

                    10mΩ～20.00mΩ,分辨力:10μΩ

5、準確度：±（0.5%R+0.2μΩ）

6、輸出時間(jian)設(she)置：100A和200A時：1～60S

                              300A時：1～5S

7、輸入電(dian)源：AC220V±10%,50～60HZ

8、工作(zuo)溫(wen)度：-20℃～50℃

9、工作(zuo)濕度：≤90%RH,不結(jie)露(lu)

10、體(ti)積：427mm×357mm×193mm       重(zhong)量(liang)：9kg